Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
prof. RNDr.
CSc.
FSI, ÚFI – ředitel ústavu
+420 54114 2707sikola@fme.vutbr.cz
Odeslat VUT zprávu
2025
DAVID, J.; JEŘÁBEK, F.; PROCHÁZKA, P.; ČERNÝ, M.; CIOBANU, C.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T.; KODAMBAKA, S.; KOLÍBAL, M. Direct Observation of Structural Phase Transformations during Phosphorene Formation on Cu(111). ACS Nano, 2025, vol. 19, no. 4, p. 4289-4298. ISSN: 1936-086X.Detail
BAJO, V.; KLOK, P.; LIŠKA, P.; KOLOŠOVÁ, J.; MOTÚZ, R.; JURAČKA, J.; GAVRANOVIĆ, S.; ZMEŠKAL, O.; KRÁL, J.; STEJSKAL, P.; JIRUŠE, J.; ŠIKOLA, T.; HORÁK, M. 4D-STEM in an FIB-SEM: A Proper Tool to Characterize Perovskite Single-Photon Emitters and Solar Cells. Journal of Physical Chemistry C, 2025, vol. 129, no. 7, p. 3905-3912. ISSN: 1932-7455.Detail
NOVÁČEK, Z.; ZEZULKA, L.; KONEČNÝ, M.; PALOUDA, A.; VACEK, M.; KOLOMÝ, Š.; SPOUSTA, J.; SUPALOVÁ, L.; ČERNEK, O.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Vacuum micromanipulator upgrading a scanning electron microscope to a new fabrication and characterization tool. Vacuum, 2025, vol. 238, no. 114290, 8 p. ISSN: 1879-2715.Detail
Musálek, T.; Liska, P.; Morsa, A.; Arregi, JA.; Klok, P.; Kratochvil, M.; Sergeev, D.; Müller, M.; Sikola, T.; Kolibal, M. Single- vs dual-source vapor deposition of inorganic halide perovskites: A case study of CsPbBr3. APL Materials, 2025, vol. 13, no. 3, 10 p. ISSN: 2166-532X.Detail
KEPIČ, P.; HORÁK, M.; KABÁT, J.; HÁJEK, M.; KONEČNÁ, A.; ŠIKOLA, T.; LIGMAJER, F. Coexisting Phases of Individual VO2 Nanoparticles for Multilevel Nanoscale Memory. ACS Nano, 2025, vol. 19, no. 1, p. 1167-1176. ISSN: 1936-086X.Detail
SUPALOVÁ, L.; BARTOŠÍK, M.; ŠVARC, V.; MACH, J.; PIASTEK, J.; ŠPAČEK, O.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. High-Temperature Ultrasensitive FET-Based CVD Graphene Hall Probes. ACS Applied Electronic Materials, 2025, vol. 7, no. 13, p. 5889-5897. ISSN: 2637-6113.Detail
HORÁK, M.; FOLTÝN, M.; ČALKOVSKÝ, V.; MIKERÁSEK, V.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Plasmonic Response to Liquid-Solid Phase Transition in Individual Gallium Nanoparticles. Journal of Physical Chemistry Letters, 2025, vol. 16, no. 35, p. 8891-8896. Detail
2024
IDESOVÁ, B.; LIGMAJER, F.; ČERVINKA, O.; ŠIKOLA, T. Hybrid full-space metalens for ultraviolet light. 2024. p. 1419-1420. Detail
PRŮŠA, S.; LINFORD, M.; VANÍČKOVÁ, E.; BÁBÍK, P.; PINDER, J. W:; ŠIKOLA, T.; BRONGERSMA, H. A practical guide to interpreting low energy ion scattering (LEIS) spectra. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2024, vol. 657, no. 1, 20 p. ISSN: 0169-4332.Detail
VANÍČKOVÁ, E.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Signal oscillations in helium scattering by bismuth atoms in the low energy range. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2024, vol. 553, no. August, 7 p. ISSN: 1872-9584.Detail
KEPIČ, P.; LIŠKA, P.; IDESOVÁ, B.; CAHA, O.; LIGMAJER, F.; ŠIKOLA, T. Pulsed laser deposition of Sb2S3 films for phase-change tunable nanophotonics. NEW JOURNAL OF PHYSICS, 2024, vol. 26, no. 1, p. 1-8. ISSN: 1367-2630.Detail
ČALKOVSKÝ, V.; MACH, J.; BARTOŠÍK, M.; PIASTEK, J.; KOSTKA, M.; MIKERÁSEK, V.; SUPALOVÁ, L.; KONEČNÝ, M.; KVAPIL, M.; HORÁK, M.; ŠIKOLA, T. Preparation of GaN Nanocrystals with Single Ag Cores. CRYSTAL GROWTH & DESIGN, 2024, vol. 24, no. 19, p. 7904-7909. ISSN: 1528-7505.Detail
LIŠKA, P.; MUSÁLEK, T.; KRATOCHVÍL, M.; ŠAMOŘIL, T.; VIEWEGH, P.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Post-synthesis band gap halide anion exchange tuning in CsPbBr3 nanocrystals and issues of light-induced phase segregation. META. Toyama, Japonsko: The 14th International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics, 2024. p. 1664-1665. ISSN: 2429-1390.Detail
FOLTÝN, M.; PATOČKA, M.; ŘEPA, R.; ŠIKOLA, T.; HORÁK, M. Influence of Deposition Parameters on the Plasmonic Properties of Gold Nanoantennas Fabricated by Focused Ion Beam Lithography. ACS Omega, 2024, vol. 9, no. 35, p. 37408-37416. ISSN: 2470-1343.Detail
STANĚK, J.; PRŮŠA, S.; STRAPKO, T.; ŠIKOLA, T. Ag polycrystal and monocrystal by high sensitivity-low energy ion scattering. Surface Science Spectra, 2024, vol. 31, no. 2, 14 p. ISSN: 1520-8575.Detail
KOVAŘÍK, M.; CITTERBERG, D.; PAIVA DE ARAÚJO, E.; ŠIKOLA, T.; KOLÍBAL, M. Understanding the Effect of Electron Irradiation on WS2 Nanotube Devices to Improve Prototyping Routines. ACS Applied Electronic Materials, 2024, vol. 6, no. 12, p. 8776-8782. ISSN: 2637-6113.Detail
TESI, L.; HRTOŇ, M.; BLOOS, D.; HENTSCHEL, M.; ŠIKOLA, T.; VAN SLAGEREN, J. Terahertz magnetic response of plasmonic metasurface resonators: origin and orientation dependence. Scientific Reports, 2024, vol. 14, no. 1, p. 1-12. ISSN: 2045-2322.Detail
LI, D.; ZHENG, W.; GALI, S. M.; SOBCZAK, K.; HORÁK, M.; POLČÁK, J.; LOPATIK, N.; LI, Z.; ZHANG, J.; SABAGHI, D.; ZHOU, S.; MICHAŁOWSKI, P. P.; ZSCHECH, E.; BRUNNER, E.; DONTEN, M.; ŠIKOLA, T.; BONN, M.; WANG, H. I.; BELJONNE, D.; YU, M.; FENG, X.;. MXenes with ordered triatomic-layer borate polyanion terminations. NATURE MATERIALS, 2024, vol. 23, no. 1, 11 p. ISSN: 1476-4660.Detail
NEŠPOR, T.; LIŠKA, P.; MUSÁLEK, T.; PIASTEK, J.; ŠIKOLA, T.; PEKAŘ, M. On-chip electrically tunable nanolasing device harnessing exciton resonances in CsPbBr3. NANOCON 2024: Abstracts : 16th International Conference on Nanomaterials - Research & Application, October 16-18, 2024, Brno, Czech Republic, EU. 1. Ostrava: Tanger Limited, 2024. 1 p. ISBN: 8088365201.Detail
2023
SABAGHI, D.; POLČÁK, J.; YANG, H.; LI, X.; MORAG, A.; LI, D.; NIA, A. S.; KHOSRAVI, S. H.; ŠIKOLA, T.; FENG, X.; YU, M. Multifunctional Molecule-Grafted V2C MXene as High-Kinetics Potassium-Ion-Intercalation Anodes for Dual-Ion Energy Storage Devices. Advanced energy materials, 2023, vol. 14, no. 3, 9 p. ISSN: 1614-6840.Detail
HORÁK, M.; ČALKOVSKÝ, V.; MACH, J.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Plasmonic Properties of Individual Gallium Nanoparticles. Journal of Physical Chemistry Letters, 2023, vol. 14, no. 8, p. 2012-2019. ISSN: 1948-7185.Detail
KACHTÍK, L.; CITTERBERG, D.; BUKVIŠOVÁ, K.; KEJÍK, L.; LIGMAJER, F.; KOVAŘÍK, M.; MUSÁLEK, T.; KRISHNAPPA, M.; ŠIKOLA, T.; KOLÍBAL, M. Chiral Nanoparticle Chains on Inorganic Nanotube Templates. NANO LETTERS, 2023, vol. 23, no. 13, p. 6010-6017. ISSN: 1530-6984.Detail
LIŠKA, P.; MUSÁLEK, T.; ŠAMOŘIL, T.; KRATOCHVÍL, M.; MATULA, R.; HORÁK, M.; NEDVĚD, M.; URBAN, J.; PLANER, J.; ROVENSKÁ, K.; DVOŘÁK, P.; KOLÍBAL, M.; KŘÁPEK, V.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Correlative Imaging of Individual CsPbBr3 Nanocrystals: Role of Isolated Grains in Photoluminescence of Perovskite Polycrystalline Thin Films. Journal of Physical Chemistry C, 2023, vol. 127, no. 25, p. 12404-12413. ISSN: 1932-7447.Detail
UKROPCOVÁ, I.; DAO, R.; ŠTUBIAN, M.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T.; WILLINGER, M.; WANG, Z.; ZLÁMAL, J.; BÁBOR, P. Electron Tractor Beam: Deterministic Manipulation of Liquid Droplets on Solid Surfaces. Advanced Materials Interfaces, 2023, vol. 10, no. 2, 7 p. ISSN: 2196-7350.Detail
VANÍČKOVÁ, E.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Bismuth, by high-sensitivity low energy ion scattering. Surface Science Spectra, 2023, vol. 30, no. 2, p. 1-15. ISSN: 1520-8575.Detail
ŠVARC, V.; BARTOŠÍK, M.; KONEČNÝ, M.; PIASTEK, J.; NEZVAL, D.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Side charge propagation in simultaneous KPFM and transport measurement of humidity exposed graphene FET sensor. CARBON, 2023, vol. 215, no. 1, 12 p. ISSN: 1873-3891.Detail
BOUCHAL, P.; DVOŘÁK, P.; HRTOŇ, M.; ROVENSKÁ, K.; CHMELÍK, R.; ŠIKOLA, T.; BOUCHAL, Z. Single-Shot Aspect Ratio and Orientation Imaging of Nanoparticles. ACS Photonics, 2023, vol. 10, no. 9, p. 3331-3341. ISSN: 2330-4022.Detail
HORÁK, M.; ČALKOVSKÝ, V.; KŘÁPEK, V.; RILEY, J.; PACHECO-PEÑA, V.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Plasmon Resonances in Ga Nanoparticles and Plasmonic Antennas for Biosensing. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2023. p. 597-598. ISSN: 2429-1390.Detail
IDESOVÁ, B.; ROVENSKÁ, K.; ČERVINKA, O.; HRTOŇ, M.; LIGMAJER, F.; ŠIKOLA, T. Dielectric metalens and polarization beam splitter for UV wavelengths. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2023. p. 1642-1643. ISSN: 2429-1390.Detail
KEPIČ, P.; LIŠKA, P.; IDESOVÁ, B.; LIGMAJER, F.; ŠIKOLA, T. Tuning optical properties of individual Sb2S3 nanostructures. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2023. p. 1623-1624. ISSN: 2429-1390.Detail
WOJEWODA, O.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KLÍMA, J.; DHANKHAR, M.; DAVÍDKOVÁ, K.; STAŇO, M.; HOLOBRÁDEK, J.; ZLÁMAL, J.; ŠIKOLA, T.; URBÁNEK, M.; URBÁNEK, M. Measuring spatially resolved phase of nanoscale spin waves. In 2023 IEEE International Magnetic Conference - Short Papers, INTERMAG Short Papers 2023 - Proceedings. 2023. 2 p. ISBN: 979-8-3503-3836-2.Detail
Major, GH.; Pinder, JW.; Austin, DE.; Baer, DR.; Castle, SL.; Cechal, J. ; Clark, BM.; Cohen, H.; Counsell, J.; Herrera-Gomez, A.; Govindan, P.; Kim, SH.; Morgan, DJ.; Opila, RL.; Powell, CJ.; Prusa, S.; Roberts, A.; Rocca, M.; Shirahata, N.; Sikola, T.; Smith, EF.; So, RC.; Stovall, JE.; Strunk, J.; Teplyakov, A.; Terry, J.; Weber, S.G.; Linford, M.R.;. Perspective on improving the quality of surface and material data analysis in the scientific literature with a focus on x-ray photoelectron spectroscopy (XPS). JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A, 2023, vol. 41, no. 3, 17 p. ISSN: 1520-8559.Detail
NEZVAL, D.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠVARC, V.; KONEČNÝ, M.; PIASTEK, J.; ŠPAČEK, O.; ŠIKOLA, T. DFT study of water on graphene: Synergistic effect of multilayer p-doping. JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 2023, vol. 159, no. 21, 10 p. ISSN: 1089-7690.Detail
WOJEWODA, O.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KLÍMA, J.; DHANKHAR, M.; DAVÍDKOVÁ, K.; STAŇO, M.; HOLOBRÁDEK, J.; KRČMA, J.; ZLÁMAL, J.; ŠIKOLA, T.; URBÁNEK, M. Observing high-k magnons with Mie-resonance-enhanced Brillouin light scattering. Communications Physics, 2023, vol. 6, no. 1, p. 1-10. ISSN: 2399-3650.Detail
BAKHSHIKHAH, M.; LIŠKA, J.; MIRDAMADI KHOUZANI, S.; ČERVINKA, O.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Improvement of photoluminescence quality of MoS2 monolayers by an atomic hydrogen beam. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2023. p. 1437-1438. ISSN: 2429-1390.Detail
WOJEWODA, O.; HRTOŇ, M.; DHANKHAR, M.; KRČMA, J.; DAVÍDKOVÁ, K.; KLÍMA, J.; HOLOBRÁDEK, J.; LIGMAJER, F.; ŠIKOLA, T.; URBÁNEK, M. Phase-resolved optical characterization of nanoscale spin waves. APPLIED PHYSICS LETTERS, 2023, vol. 122, no. 20, p. 1-6. ISSN: 0003-6951.Detail
GALLINA, P.; KVAPIL, M.; LIŠKA, J.; KONEČNÁ, A.; KŘÁPEK, V.; KALOUSEK, R.; ZLÁMAL, J.; ŠIKOLA, T. Strong coupling in an Au plasmonic antenna-SiO2 layer system: A hybrid-mode analysis. PHYSICAL REVIEW B, 2023, vol. 107, no. 12, 6 p. ISSN: 2469-9969.Detail
HORÁK, M.; KONEČNÁ, A.; ŠIKOLA, T.; KŘÁPEK, V. Spatio-spectral metrics in electron energy loss spectroscopy as a tool to resolve nearly degenerate plasmon modes in dimer plasmonic antennas. Nanophotonics, 2023, vol. 12, no. 15, p. 3089-3098. ISSN: 2192-8606.Detail
POLAT, Ö.; HORÁK, M.; ARREGI URIBEETXEBARRIA, J.; BUKVIŠOVÁ, K.; ZLÁMAL, J.; ŠIKOLA, T. Synthesis and characterization of half-Heusler ScPtBi films via three-source magnetron co-sputtering on Nb superconductor buffer layer. Surfaces and Interfaces, 2023, vol. 40, no. 103118, 7 p. ISSN: 2468-0230.Detail
AVVAL, T.; PRŮŠA, S.; ČECHAL, J.; CUSHMAN, C. V.; HODGES, G. T.; FEARN, S.; KIM, S. H.;ČECHAL, J.; VANÍČKOVÁ, E.; BÁBÍK, P.; ŠIKOLA, T.; BRONGERSMA, H. H.; LINFORD, M. R. A tag-and-count approach for quantifying surface silanol densities on fused silica based on atomic layer deposition and high-sensitivity low-energy ion scattering. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2023, vol. 607, no. 154551, 9 p. ISSN: 0169-4332.Detail
GALLINA, P.; KONEČNÁ, A.; LIŠKA, J.; IDROBO, J.; ŠIKOLA, T. Strongly Coupled Plasmon and Phonon Polaritons as Seen by Photon and Electron Probes. Physical Review Applied, 2023, vol. 19, no. 2, 11 p. ISSN: 2331-7019.Detail
ROVENSKÁ, K.; LIGMAJER, F.; IDESOVÁ, B.; KEPIČ, P.; LIŠKA, J.; CHOCHOL, J.; ŠIKOLA, T. Structural color filters with compensated angle-dependent shifts. OPTICS EXPRESS, 2023, vol. 31, no. 26, p. 43048-43056. ISSN: 1094-4087.Detail
HORÁK, M.; KRPENSKÝ, J.; PLANER, J.; KEPIČ, P.; KABÁT, J.; ŠIKOLA, T.; KONEČNÁ, A.; KŘÁPEK, V. Metal-insulator transition in vanadium dioxide studied by analytical transmission electron microscopy. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2023. no. 1, p. 1293-1294. ISSN: 2429-1390.Detail
2022
POLAT, Ö.; COSKUN, M.; ROUPCOVÁ, P.; SOBOLA, D.; DURMUS, Z.; CAGLAR, M.; ŠIKOLA, T.; TURUT, A. The Os substitution into Fe sites in LuFeO3 multiferroic and its effects on the electrical and dielectric features. Journal of Alloys and Compounds, 2022, vol. 911, no. 1, p. 165035-1 (165035-14 p.)ISSN: 1873-4669.Detail
KEPIČ, P.; LIGMAJER, F.; ROVENSKÁ, K.; ŠIKOLA, T. Tunable scattering-absorbing VO2nanoantennas in the near-infrared. In 2022 16th International Congress on Artificial Materials for Novel Wave Phenomena, Metamaterials 2022. 2022. p. 1-3. ISBN: 978-1-66-546584-7.Detail
PEJCHAL, T.; BUKVIŠOVÁ, K.; VALLEJOS VARGAS, S.; CITTERBERG, D.; ŠIKOLA, T.; KOLÍBAL, M. Ga interaction with ZnO surfaces: Diffusion and melt-back etching. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2022, vol. 583, no. 1, p. 152475-152475. ISSN: 0169-4332.Detail
DVOŘÁK, P.; KLOK, P.; KVAPIL, M.; HRTOŇ, M.; BOUCHAL, P.; KRPENSKÝ, J.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Two-dimensional quantitative near-field phase imaging using square and hexagonal interference devices. Nanophotonics, 2022, vol. 11, no. 19, p. 1-12. ISSN: 2192-8614.Detail
PIASTEK, J.; MACH, J.; BÁRDY, S.; ÉDES, Z.; BARTOŠÍK, M.; MANIŠ, J.; ČALKOVSKÝ, V.; KONEČNÝ, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Correlative Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy: The Role of Single Ga Islands in Surface-Enhanced Raman Spectroscopy of Graphene. Journal of Physical Chemistry C, 2022, vol. 126, no. 9, p. 4508-4514. ISSN: 1932-7455.Detail
ROTHMAN, A.; BUKVIŠOVÁ, K.; ITZHAK, N. R.; KAPLAN-ASHIRI, I.; KOSSOY, A. E.; SUI, X.; NOVÁK, L.; ŠIKOLA, T.; KOLÍBAL, M.; JOSELEVICH, E. Real-Time Study of Surface-Guided Nanowire Growth by In Situ Scanning Electron Microscopy. ACS Nano, 2022, vol. 16, no. 11, p. 18757-18766. ISSN: 1936-0851.Detail
KŘÁPEK, V.; DVOŘÁK, P.; KEJÍK, L.; ÉDES, Z.; KVAPIL, M.; HORÁK, M.; LIŠKA, J.; KRPENSKÝ, J.; ŠIKOLA, T. Plasmon-excited near-field luminescence of semiconductor light sources. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2022. p. 881-882. ISSN: 2429-1390.Detail
MANIŠ, J.; MACH, J.; BARTOŠÍK, M.; ŠAMOŘIL, T.; HORÁK, M.; ČALKOVSKÝ, V.; NEZVAL, D.; KACHTÍK, L.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. Low temperature 2D GaN growth on Si(111) 7 x 7 assisted by hyperthermal nitrogen ions. Nanoscale Advances, 2022, vol. 1, no. 1, p. 1-8. ISSN: 2516-0230.Detail
KVAPIL, M.; ŠIKOLA, T.; KŘÁPEK, V. Surface Plasmon Interference Device as a Source of Near-Field Power for Photoluminescence. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2022, vol. 142, no. 5, p. 668-672. ISSN: 0587-4246.Detail
HORÁK, M.; LIGMAJER, F.; ČALKOVSKÝ, V.; DAŇHEL, A.; KEPIČ, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Plasmon resonances in biocompatible nanoparticles. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2022. p. 1261-1262. ISSN: 2429-1390.Detail
HORÁK, M.; KONEČNÁ, A.; ŠIKOLA, T.; KŘÁPEK, V. Spatio-spectral electron energy loss spectroscopy as a tool to resolve nearly degenerate plasmon modes in dimer plasmonic antennas. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2022. p. 869-870. ISSN: 2429-1390.Detail
SCHÁNILEC, V.; BRUNN, O.; HORÁČEK, M.; KRÁTKÝ, S.; MELUZÍN, P.; ŠIKOLA, T.; CANALS, B.; ROUGEMAILLE, N. Approaching the Topological Low-Energy Physics of the F Model in a Two-Dimensional Magnetic Lattice. PHYSICAL REVIEW LETTERS, 2022, vol. 129, no. 2, 6 p. ISSN: 1079-7114.Detail
POLAT, Ö.; ARREGI URIBEETXEBARRIA, J.; HORÁK, M.; POLČÁK, J.; BUKVIŠOVÁ, K.; ZLÁMAL, J.; ŠIKOLA, T. The fabrication and characterization of half-Heusler YPdBi thin films. JOURNAL OF PHYSICS AND CHEMISTRY OF SOLIDS, 2022, vol. 161, no. 1, p. 1-6. ISSN: 0022-3697.Detail
KEPIČ, P.; LIGMAJER, F.; ROVENSKÁ, K.; ŠIKOLA, T. Tunable scattering–absorbing VO2 nanoantennas in the near-infrared. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2022. p. 1041-1042. ISSN: 2429-1390.Detail
ČERVINKA, O.; ŠIKOLA, T. Structural coloration using single nanostructure - Metamaterials 2022. In 16th International Congress on Artificial Materials for Novel Wave Phenomena, Metamaterials 2022. 2022. p. 1-2. ISBN: 978-1-66-546584-7.Detail
KEPIČ, P.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; REN, H.; DE MENEZES, L.S.; MAIER, S.A.; ŠIKOLA, T. Exploiting Mie resonances in VO2 nanoantennas for achieving optically tunable metasurfaces in the visible range. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2022. no. 1, p. 680-681. ISSN: 2429-1390.Detail
POLAT, Ö.; MOHELSKÝ, I.; ARREGI URIBEETXEBARRIA, J.; HORÁK, M.; POLČÁK, J.; BUKVIŠOVÁ, K.; ZLÁMAL, J.; ŠIKOLA, T. An investigation of structural and magnetotransport features of half-Heusler ScPtBi thin films. MATERIALS RESEARCH BULLETIN, 2022, vol. 149, no. 1, p. 111696-1 (111696-7 p.)ISSN: 1873-4227.Detail
ROVENSKÁ, K.; IDESOVÁ, B.; LIGMAJER, F.; KEPIČ, P.; ŠIKOLA, T. Introducing tunability into structural color filters using vanadium dioxide. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2022. p. 1062-1063. ISSN: 2429-1390.Detail
2021
AVVAL, T. G.; PRŮŠA, S.; CHAPMAN, S. C.; LINFORD, M. R.; ŠIKOLA, T.; BRONGERSMA, H. H. Zinc and copper, by high sensitivity-low energy ion scattering. Surface Science Spectra, 2021, vol. 28, no. 1, p. 1-8. ISSN: 1055-5269.Detail
POLAT, Ö.; COSKUN, M.; ROUPCOVÁ, P.; SOBOLA, D.; DURMUS, Z.; CAGLAR, M.; ŠIKOLA, T.; TURUT, A. Influence of iridium (Ir) doping on the structural, electrical, and dielectric properties of LuFeO3 perovskite compound. Journal of Alloys and Compounds, 2021, vol. 877, no. 1, p. 160282-1 (160282-14 p.)ISSN: 0925-8388.Detail
LIGMAJER, F.; KEPIČ, P.; HRTOŇ, M.; ŠIKOLA, T. Optically tunable nanoantennas for visible range based on vanadium dioxide. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2021. 3 p. ISSN: 2429-1390.Detail
KŘÁPEK, V.; HORÁK, M.; HRTOŇ, M.; KONEČNÁ, A.; STÖGER-POLLACH, M.; LIGMAJER, F.; ŠIKOLA, T. Independent engineering of individual plasmon modes in plasmonic dimers with conductive and capacitive coupling. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2021. p. 1063-1064. ISSN: 2429-1390.Detail
LIŠKA, J.; LIGMAJER, F.; PINHO, P.V.N.; KEJÍK, L.; KVAPIL, M.; DVOŘÁK, P.; LEITNER, N.S.; REIMHULT,E.; ŠIKOLA, T. Effect of deposition angle on fabrication of plasmonic metal nanocones. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2021. no. 1, p. 1044-1046. ISSN: 2429-1390.Detail
ROTHMAN, A.; MANIŠ, J.; DUBROVSKII, V.; ŠIKOLA, T.; MACH, J.; JOSLEVICH, E. Kinetics of Guided Growth of Horizontal GaN Nanowires on Flat and Faceted Sapphire Surfaces. Nanomaterials, 2021, vol. 11, no. 3, p. 1-9. ISSN: 2079-4991.Detail
ROVENSKÁ, K.; LIGMAJER, F.; CHOCHOL, J.; LIŠKA, J.; ŠIKOLA, T. Plasmonic color filters: angular dependence. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2021. p. 1071-1072. ISSN: 2429-1390.Detail
HAVRANOVÁ, P.; FOJT, L.; KEJÍK, L.; ŠIKOLA, T.; FOJTA, M.; DAŇHEL, A. Electrodeposition of silver amalgam particles on screen-printed silver electrodes in voltammetric detection of 4-nitrophenol, bovine serum albumin and artificial nucleosides dTPT3 and d5SICS. SENSORS AND ACTUATORS B-CHEMICAL, 2021, vol. 340, no. 1, p. 129921-1 (129921-9 p.)ISSN: 0925-4005.Detail
ROVENSKÁ, K.; HRTOŇ, M.; LIGMAJER, F.; KEPIČ, P.; KŘÁPEK, V.; HILLENBRAND, R.; ŠIKOLA, T. Plasmonic metasurfaces for magnetic field enhancement at THz frequencies. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2021. p. 1065-1066. ISSN: 2429-1390.Detail
KEPIČ, P.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; REN, H.; MENEZES, L.; MAIER, S.; ŠIKOLA, T. Optically Tunable Mie Resonance VO2 Nanoantennas for Metasurfaces in the Visible. ACS Photonics, 2021, vol. 8, no. 4, p. 1048-1057. ISSN: 2330-4022.Detail
KEJÍK, L.; HORÁK, M.; ŠIKOLA, T.; KŘÁPEK, V. Comparative study of monocrystalline and polycrystalline gold plasmonic nanorods. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2021. p. 1047-1048. ISSN: 2429-1390.Detail
KEPIČ, P.; LIGMAJER, F.; ROVENSKÁ, K.; HRTOŇ, M.; LIŠKA, J.; ŠIKOLA, T. Potential of pure VO2 building blocks for tunable metasurfaces in the visible. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2021. 2 p. ISSN: 2429-1390.Detail
HORÁK, M.; ŠIKOLA, T. Influence of primary beam energy on localized surface plasmon resonances mapping by STEM-EELS. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2021. p. 686-688. ISSN: 2429-1390.Detail
TESI, L.; BLOOS, D.; HRTOŇ, M.; BENEŠ, A.; HENTSCHEL, M.; KERN, M.; LEAVESLEY, A.; HILLENBRAND, R.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T.; VAN SLAGEREN, J. Plasmonic Metasurface Resonators to Enhance Terahertz Magnetic Fields for High-Frequency Electron Paramagnetic Resonance. Small Methods, 2021, vol. 5, no. 9, p. 2100376-2100376. ISSN: 2366-9608.Detail
KŘÁPEK, V.; DVOŘÁK, P.; KEJÍK, L.; KONEČNÝ, M.; ÉDES, Z.; HRTOŇ, M.; KVAPIL, M.; HORÁK, M.; ŠIKOLA, T. Near-field luminescence of two-dimensional semiconductors. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2021. p. 813-814. ISSN: 2429-1390.Detail
YAO, K.; LI, S.; LIU, Z.; YING, Y.; DVOŘÁK, P.; FEI, L.; ŠIKOLA, T.; HUANG, H.; NORDLANDER, P.; JEN, A. K. Y.; LEI, D. Plasmon-induced trap filling at grain boundaries in perovskite solar cells. Light: Science and Applications, 2021, vol. 10, no. 1, p. 219-219. ISSN: 2047-7538.Detail
FORDEY, T.; BOUCHAL, P.; SCHOVÁNEK, P.; BARÁNEK, M.; BOUCHAL, Z.; DVOŘÁK, P.; HRTOŇ, M.; ROVENSKÁ, K.; LIGMAJER, F.; CHMELÍK, R.; ŠIKOLA, T. Single-Shot Three-Dimensional Orientation Imaging of Nanorods Using Spin to Orbital Angular Momentum Conversion. NANO LETTERS, 2021, vol. 21, no. 17, p. 7244-7251. ISSN: 1530-6992.Detail
HORÁK, M.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Charakterizace plazmonických antén s využitím elektronové mikroskopie a spektroskopie. Jemná mechanika a optika, 2021, roč. 66, č. 3, s. 65-69. ISSN: 0447-6441.Detail
2020
NEZVAL, D.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; PIASTEK, J.; ŠVARC, V.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. Density functional study of gallium clusters on graphene: electronic doping and diffusion. JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER, 2020, vol. 33, no. 2, p. 1-7. ISSN: 1361-648X.Detail
HORÁK, M.; ŠIKOLA, T. Influence of experimental conditions on localized surface plasmon resonances measurement by electron energy loss spectroscopy. ULTRAMICROSCOPY, 2020, vol. 216, no. 1, p. 1-9. ISSN: 0304-3991.Detail
KEJÍK, L.; HORÁK, M.; ŠIKOLA, T.; KŘÁPEK, V. Structural and optical properties of monocrystalline and polycrystalline gold plasmonic nanorods. OPTICS EXPRESS, 2020, vol. 28, no. 23, p. 34960-34972. ISSN: 1094-4087.Detail
KŘÁPEK, V.; KONEČNÁ, A.; HORÁK, M.; LIGMAJER, F.; STÖGER-POLLACH, M.; HRTOŇ, M.; BABOCKÝ, J.; ŠIKOLA, T. Independent engineering of individual plasmon modes in plasmonic dimers with conductive and capacitive coupling. Nanophotonics, 2020, vol. 9, no. 3, p. 623-632. ISSN: 2192-8606.Detail
LIŠKA, J.; LIGMAJER, F.; PINHO NASCIMENTO, P.; KEJÍK, L.; KVAPIL, M.; DVOŘÁK, P.; HORKÝ, M.; LEITNER, N.; REIMHULT, E.; ŠIKOLA, T. Effect of deposition angle on fabrication of plasmonic gold nanocones and nanodiscs. MICROELECTRONIC ENGINEERING, 2020, vol. 228, no. 1, p. 1-6. ISSN: 0167-9317.Detail
UHLÍŘ, V.; PRESSACCO, F.; ARREGI URIBEETXEBARRIA, J.; PROCHÁZKA, P.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T.; ČECHAL, J.; BENDOUNAN, A.; SIROTTI, F. Single-layer graphene on epitaxial FeRh thin films. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2020, vol. 514, no. 1, p. 145923-1 (145923-7 p.)ISSN: 0169-4332.Detail
HRTOŇ, M.; KONEČNÁ, A.; HORÁK, M.; ŠIKOLA, T.; KŘÁPEK, V. Plasmonic Antennas with Electric, Magnetic, and Electromagnetic Hot Spots Based on Babinet's Principle. Physical Review Applied, 2020, vol. 13, no. 5, p. 1-14. ISSN: 2331-7019.Detail
SCHÁNILEC, V.; CANALS, B.; UHLÍŘ, V.; FLAJŠMAN, L.; SADÍLEK, J.; ŠIKOLA, T.; ROUGEMAILLE, N. Bypassing Dynamical Freezing in Artificial Kagome Ice. PHYSICAL REVIEW LETTERS, 2020, vol. 125, no. 5, p. 057203-1 (057201-5 p.)ISSN: 1079-7114.Detail
PRŮŠA, S.; BÁBÍK, P.; ŠIKOLA, T.; BRONGERSMA, H. Quantitative analysis of calcium and fluorine by high-sensitivity low-energy ion scattering: Calcium fluoride. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2020, vol. 52, no. 1, p. 1000-1003. ISSN: 0142-2421.Detail
WANG, Y.; ŠIKOLA, T.; KOLÍBAL, M. Collector Droplet Behavior during Formation of Nanowire Junctions. Journal of Physical Chemistry Letters, 2020, vol. 11, no. 16, p. 6498-6504. ISSN: 1948-7185.Detail
BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; PIASTEK, J.; NEZVAL, D.; KONEČNÝ, M.; ŠVARC, V.; ENSSLIN, K.; ŠIKOLA, T. Mechanism and Suppression of Physisorbed-Water-Caused Hysteresis in Graphene FET Sensors. ACS Sensors, 2020, vol. 5, no. 9, p. 2940-2949. ISSN: 2379-3694.Detail
PRŮŠA, S.; BÁBÍK, P.; MACH, J.; STRAPKO, T.; ŠIKOLA, T.; BRONGERSMA, H. Calcium and fluorine signals in HS-LEIS for CaF2(111) and powder-Quantification of atomic surface concentrations using LiF(001), Ca, and Cu references. Surface Science Spectra, 2020, vol. 27, no. 2, p. 1-13. ISSN: 1055-5269.Detail
HORÁK, M.; KŘÁPEK, V.; HRTOŇ, M.; KONEČNÁ, A.; LIGMAJER, F.; STÖGER-POLLACH, M.; ŠIKOLA, T. Magnetic Near Field Imaging with Electron Energy Loss Spectroscopy Based on Babinet's Principle. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, 2020, vol. 26, no. S2, p. 2628-2630. ISSN: 1435-8115.Detail
ARIAS, P.; TESAŘ, J.; KAVNER, A.; ŠIKOLA, T.; KODAMBAKA, S. In Situ Variable-Temperature Scanning Tunneling Microscopy Studies of Graphene Growth Using Benzene on Pd(111). ACS Nano, 2020, vol. 14, no. 1, p. 1141-1147. ISSN: 1936-0851.Detail
BITTON, O.; GUPTA, S.; HOUBEN, L.; KVAPIL, M.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T.; HARAN, G. Vacuum Rabi splitting of a dark plasmonic cavity mode revealed by fast electrons. Nature Communications, 2020, vol. 11, no. 1, p. 1-7. ISSN: 2041-1723.Detail
DVOŘÁK, P.; ROVENSKÁ, K.; LIGMAJER, F.; CHMELÍK, R.; ŠIKOLA, T. Optické metapovrchy a 2D optika. Československý časopis pro fyziku, 2020, roč. 70, č. 5, s. 323-325. ISSN: 0009-0700.Detail
HORÁK, M.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Imaging of Electric and Magnetic Near Field. GIT Imaging&Microscopy, 2020, vol. 3, no. 1, p. 31-33. ISSN: 1439-4243.Detail
HORÁK, M.; LIGMAJER, F.; ŠIKOLA, T.; FOJTA, M.; DAŇHEL, A. Plasmonic Properties of Silver Amalgam Nanoparticles Studied by Analytical Transmission Electron Microscopy. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. Cambridge University Press, 2020. no. S2, p. 2650-2652. ISSN: 1435-8115.Detail
2019
BOUCHAL, P.; DVOŘÁK, P.; BABOCKÝ, J.; BOUCHAL, Z.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KŘÁPEK, V.; FAßBENDER, A.; LINDEN, S.; CHMELÍK, R.; ŠIKOLA, T. Geometric-Phase Microscopy for Quantitative Phase Imaging of Plasmonic Metasurfaces. 2019. p. 1-2. ISBN: ISBN: 978-1-943580-5.Detail
NOVÁK, T.; KOSTELNÍK, P.; KONEČNÝ, M.; ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Temperature effect on Al predose and AlN nucleation affecting the buffer layer performance for the GaN-on-Si based high-voltage devices. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2019, vol. 58, no. SC, p. SC1018-1 (SC1018-9 p.)ISSN: 0021-4922.Detail
MACH, J.; PIASTEK, J.; MANIŠ, J.; ČALKOVSKÝ, V.; ŠAMOŘIL, T.; FLAJŠMANOVÁ, J.; BARTOŠÍK, M.; VOBORNÝ, S.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. Low temperature selective growth of GaN single crystals on pre-patterned Si substrates. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2019, vol. 497, no. 143705, p. 1-7. ISSN: 0169-4332.Detail
HOLEŇÁK, R.; SPUSTA, T.; POTOČEK, M.; SALAMON, D.; ŠIKOLA, T.; BÁBOR, P. 3D localization of spinel (MgAl2O4) and sodium contamination in alumina by TOF-SIMS. MATERIALS CHARACTERIZATION, 2019, vol. 148, no. 1, p. 252-258. ISSN: 1044-5803.Detail
HORÁK, M.; KŘÁPEK, V.; HRTOŇ, M.; KONEČNÁ, A.; LIGMAJER, F.; STÖGER-POLLACH, M.; ŠAMOŘIL, T.; PATÁK, A.; ÉDES, Z.; METELKA, O.; BABOCKÝ, J.; ŠIKOLA, T. Limits of Babinet’s principle for solid and hollow plasmonic antennas. Scientific Reports, 2019, vol. 9, no. 1, p. 1-11. ISSN: 2045-2322.Detail
BOUCHAL, P.; DVOŘÁK, P.; BABOCKÝ, J.; BOUCHAL, Z.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KŘÁPEK, V.; FAßBENDER, A.; LINDEN, S.; CHMELÍK, R.; ŠIKOLA, T. Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie. Jemná mechanika a optika, 2019, roč. 64, č. 4, s. 95-98. ISSN: 0447-6441.Detail
GABLECH, I.; SVATOŠ, V.; CAHA, O.; DUBROKA, A.; PEKÁREK, J.; KLEMPA, J.; NEUŽIL, P.; SCHNEIDER, M.; ŠIKOLA, T. Preparation of high-quality stress-free (001) aluminum nitride thin film using a dual kaufman ion-beam source setup. Thin Solid Films, 2019, vol. 670, no. NA, p. 105-112. ISSN: 0040-6090.Detail
BOUCHAL, P.; DVOŘÁK, P.; BABOCKÝ, J.; BOUCHAL, Z.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KŘÁPEK, V.; FAßBENDER, A.; LINDEN, S.; CHMELÍK, R.; ŠIKOLA, T. High-Resolution Quantitative Phase Imaging of Plasmonic Metasurfaces with Sensitivity down to a Single Nanoantenna. NANO LETTERS, 2019, vol. 19, no. 2, p. 1242-1250. ISSN: 1530-6984.Detail
KOLÍBAL, M.; BUKVIŠOVÁ, K.; KACHTÍK, L.; ZAK, A.; NOVÁK, L.; ŠIKOLA, T. Formation of Tungsten Oxide Nanowires by Electron-Beam-Enhanced Oxidation of WS2 Nanotubes and Platelets. Journal of Physical Chemistry C, 2019, vol. 123, no. 14, p. 9552-9559. ISSN: 1932-7447.Detail
LIGMAJER, F.; HORÁK, M.; ŠIKOLA, T.; FOJTA, M.; DAŇHEL, A. Silver Amalgam Nanoparticles and Microparticles: A Novel Plasmonic Platform for Spectroelectrochemistry. Journal of Physical Chemistry C, 2019, vol. 123, no. 27, p. 16957-16964. ISSN: 1932-7447.Detail
2018
KOLÍBAL, M.; PEJCHAL, T.; MUSÁLEK, T.; ŠIKOLA, T. Catalyst–substrate interaction and growth delay in vapor–liquid–solid nanowire growth. NANOTECHNOLOGY, 2018, vol. 29, no. 20, p. 1-7. ISSN: 0957-4484.Detail
KORMOŠ, L.; PROCHÁZKA, P.; ŠIKOLA, T.; ČECHAL, J. Molecular Passivation of Substrate Step Edges as Origin of Unusual Growth Behavior of 4,4′-Biphenyl Dicarboxylic Acid on Cu(001). Journal of Physical Chemistry C, 2018, vol. 2018, no. 122, p. 2815-2820. ISSN: 1932-7447.Detail
KONEČNÝ, M.; HEGROVÁ, V.; PROCHÁZKA, P.; PIASTEK, J.; LIGMAJER, F.; BARTOŠÍK, M.; ŠIKOLA, T. Příprava a využití grafen-kovových hybridních struktur pro biodetekci metodou povrchem zesílené Ramanovy spektroskopie. Jemná mechanika a optika, 2018, roč. 63, č. 9, s. 261-263. ISSN: 0447-6441.Detail
LIGMAJER, F.; KEJÍK, L.; TIWARI, U.; QIU, M.; NAG, J.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T.; JIN, W.; HAGLUND, R.; APPAVOO, K.; LEI, D. Epitaxial VO2 nanostructures: A route to large-scale, switchable dielectric metasurfaces. ACS Photonics, 2018, vol. 5, no. 7, p. 2561-2567. ISSN: 2330-4022.Detail
BŘÍNEK, L.; KVAPIL, M.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Plasmon Resonances of Mid-IR Antennas on Absorbing Substrate: Optimization of Localized Plasmon-Enhanced Absorption upon Strong Coupling Effect. ACS Photonics, 2018, vol. 5, no. 11, p. 4378-4385. ISSN: 2330-4022.Detail
HORÁK, M.; BUKVIŠOVÁ, K.; ŠVARC, V.; JASKOWIEC, J.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Comparative study of plasmonic antennas fabricated by electron beam and focused ion beam lithography. Scientific Reports, 2018, vol. 8, no. 1, p. 9640-9648. ISSN: 2045-2322.Detail
STARÁ, V.; PROCHÁZKA, P.; MAREČEK, D.; ŠIKOLA, T.; ČECHAL, J. Ambipolar remote graphene doping by low-energy electron beam irradiation. Nanoscale, 2018, vol. 10, no. 37, p. 17520-17524. ISSN: 2040-3372.Detail
KONEČNÝ, M.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠVARC, V.; NEZVAL, D.; PIASTEK, J.; PROCHÁZKA, P.; CAHLÍK, A.; ŠIKOLA, T. Kelvin Probe Force Microscopy and Calculation of Charge Transport in a Graphene/Silicon Dioxide System at Different Relative Humidity. ACS Applied Materials & Interfaces, 2018, vol. 10, no. 14, p. 11987-11994. ISSN: 1944-8244.Detail
GABLECH, I.; CAHA, O.; SVATOŠ, V.; PRÁŠEK, J.; PEKÁREK, J.; NEUŽIL, P.; ŠIKOLA, T. Preparation of [001] Oriented Titanium Thin Film for MEMS Applications by Kaufman Ion-beam Source. In Proceedings of 9 th International conference Nanocon 2017. 1. Ostrava: Tanger, 2018. p. 117-122. ISBN: 978-80-87294-59-8.Detail
DVOŘÁK, P.; KVAPIL, M.; BOUCHAL, P.; ÉDES, Z.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; LIGMAJER, F.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Near-field digital holography: a tool for plasmon phase imaging. Nanoscale, 2018, vol. 10, no. 45, p. 21363-21368. ISSN: 2040-3372.Detail
2017
GABLECH, I.; CAHA, O.; SVATOŠ, V.; PEKÁREK, J.; NEUŽIL, P.; ŠIKOLA, T. Stress-free deposition of [001] preferentially oriented titanium thin film by Kaufman ion-beam source. Thin Solid Films, 2017, vol. 638, no. NA, p. 57-62. ISSN: 0040-6090.Detail
MACH, J.; PROCHÁZKA, P.; BARTOŠÍK, M.; NEZVAL, D.; PIASTEK, J.; HULVA, J.; ŠVARC, V.; KONEČNÝ, M.; KORMOŠ, L.; ŠIKOLA, T. Electronic transport properties of graphene doped by gallium. NANOTECHNOLOGY, 2017, vol. 28, no. 41, p. 1-10. ISSN: 0957-4484.Detail
DAŇHEL, A.; LIGMAJER, F.; ŠIKOLA, T.; WALCARIUS, A.; FOJTA, M. Electrodeposition of silver amalgam particles on ITO – Towards novel electrode material. Journal of Electroanalytical Chemistry, 2017, vol. 821, no. 37, p. 53-59. ISSN: 1572-6657.Detail
PROCHÁZKA, P.; MAREČEK, D.; LIŠKOVÁ, Z.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. X-ray induced electrostatic graphene doping via defect charging in gate dielectric. Scientific Reports, 2017, vol. 7, no. 1, p. 1-7. ISSN: 2045-2322.Detail
ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Flexible foils formed by a prolonged electron beam irradiation in scanning electron microscope. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2017, vol. 423, no. 1, p. 538-541. ISSN: 0169-4332.Detail
ŠIMŠÍKOVÁ, M.; ŠIKOLA, T. Interaction of Graphene Oxide with Proteins and Applications of their Conjugates. Journal of Nanomedicine Research, 2017, vol. 5, no. 2, p. 1-4. ISSN: 2377-4282.Detail
HRTOŇ, M.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Boundary element method for 2D materials and thin films. OPTICS EXPRESS, 2017, vol. 25, no. 20, p. 23709-23724. ISSN: 1094-4087.Detail
BABOCKÝ, J.; KŘÍŽOVÁ, A.; ŠTRBKOVÁ, L.; KEJÍK, L.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; DVOŘÁK, P.; TÝČ, M.; ČOLLÁKOVÁ, J.; KŘÁPEK, V.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; ŠIKOLA, T. Quantitative 3D phase imaging of plasmonic metasurfaces. ACS Photonics, 2017, vol. 4, no. 6, p. 1389-1397. ISSN: 2330-4022.Detail
KALOUSEK, R.; SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T.; SHEN, Z.; SALAMON, D.; MACA, K. Rapid heating of zirconia nanoparticle-powder compacts by infrared radiation heat transfer. Journal of the European Ceramic Society, 2017, vol. 37, no. 3, p. 1067-1072. ISSN: 0955-2219.Detail
HORÁK, M.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Plazmonové rezonance ve zlatých nanočásticích zkoumané s využitím elektronové mikroskopie. Jemná mechanika a optika, 2017, roč. 62, č. 11-12, s. 303-305. ISSN: 0447-6441.Detail
VAŇATKA, M.; URBÁNEK, M.; JÍRA, R.; FLAJŠMAN, L.; DHANKHAR, M.; IM, M.; MICHALIČKA, J.; UHLÍŘ, V.; ŠIKOLA, T. Magnetic vortex nucleation modes in static magnetic fields. AIP Advances, 2017, vol. 7, no. 10, p. 1-8. ISSN: 2158-3226.Detail
DVOŘÁK, P.; ÉDES, Z.; KVAPIL, M.; ŠAMOŘIL, T.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; DUB, P.; SPOUSTA, J.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Imaging of near-field interference patterns by a-SNOM – influence of illumination wavelength and polarization state. OPTICS EXPRESS, 2017, vol. 25, no. 14, p. 16560-16573. ISSN: 1094-4087.Detail
KORMOŠ, L.; KRATZER, M.; KOSTECKI, K.; OEME, M.; ŠIKOLA, T.; KASPER, E.; SCHULZE, J.; TEICHERT, C. Surface analysis of epitaxially grown GeSn alloys with Sn contents between 15% and 18%. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2017, vol. 49, no. 4, p. 297-302. ISSN: 1096-9918.Detail
BARTOŠÍK, M.; KORMOŠ, L.; FLAJŠMAN, L.; KALOUSEK, R.; MACH, J.; LIŠKOVÁ, Z.; NEZVAL, D.; ŠVARC, V.; ŠAMOŘIL, T.; ŠIKOLA, T. Nanometer-Sized Water Bridge and Pull-Off Force in AFM at Different Relative Humidities: Reproducibility Measurement and Model Based on Surface Tension Change. JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY B, 2017, vol. 121, no. 3, p. 610-619. ISSN: 1520-6106.Detail
2016
GABLECH, I.; SVATOŠ, V.; CAHA, O.; HRABOVSKÝ, M.; PRÁŠEK, J.; HUBÁLEK, J.; ŠIKOLA, T. Preparation of (001) preferentially oriented titanium thin films by ion-beam sputtering deposition on thermal silicon dioxide. JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE, 2016, vol. 51, no. 7, p. 3329-3336. ISSN: 0022-2461.Detail
ŠIMŠÍKOVÁ, M.; BARTOŠ, M.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Decolorization of organic dyes by gold nanoflowers prepared on reduced graphene oxide by tea polyphenols. Catalysis Science & Technology, 2016, vol. 6, no. 9, p. 3008-3017. ISSN: 2044-4753.Detail
KOLÍBAL, M.; NOVÁK, L.; SHANLEY, T.; TOTH, M.; ŠIKOLA, T. Silicon oxide nanowire growth mechanisms revealed by real-time electron microscopy. Nanoscale, 2016, vol. 8, no. 1, p. 266-275. ISSN: 2040-3364.Detail
KŘÁPEK, V.; KLENOVSKÝ, P.; ŠIKOLA, T. Type-I and Type-II Confinement in Quantum Dots: Excitonic Fine Structure. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2016, vol. 129, no. 1A, p. A66 (A69 p.)ISSN: 0587-4246.Detail
ŠIMŠÍKOVÁ, M.; BARTOŠ, M.; KEŠA, P.; ŠIKOLA, T. Green approach for preparation of reduced graphene oxide decorated with gold nanoparticles and its optical and catalytic properties. MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS, 2016, vol. 177, no. 1, p. 339-345. ISSN: 0254-0584.Detail
KOLÍBAL, M.; PEJCHAL, T.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. The Synergic Effect of Atomic Hydrogen Adsorption and Catalyst Spreading on Ge Nanowire Growth Orientation and Kinking. NANO LETTERS, 2016, vol. 16, no. 8, p. 4880-4886. ISSN: 1530-6984.Detail
KVAPIL, M.; ŠIKOLA, T. Studium plazmonických antén na vrstvě nanokrystalického diamantu. Jemná mechanika a optika, 2016, roč. 61, č. 6, s. 160-164. ISSN: 0447-6441.Detail
FLAJŠMAN, L.; URBÁNEK, M.; KŘIŽÁKOVÁ, V.; VAŇATKA, M.; TURČAN, I.; ŠIKOLA, T. High-resolution fully vectorial scanning Kerr magnetometer. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2016, vol. 87, no. 5, p. 053704-1 (053704-7 p.)ISSN: 0034-6748.Detail
DVOŘÁK, P.; KOLÍBAL, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Fotoluminiscence h-BN detekována pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli. Jemná mechanika a optika, 2016, roč. 61, č. 6, s. 149-150. ISSN: 0447-6441.Detail
BABOCKÝ, J.; DVOŘÁK, P.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; ŠIKOLA, T.; BOK, J.; FIALA, J. Patterning large area plasmonic nanostructures on nonconductive substrates using variable pressure electron beam lithography. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2016, vol. 34, no. 6, p. 06K801-1 (06K801-4 p.)ISSN: 1071-1023.Detail
KVAPIL, M.; KROMKA, A.; REZEK, B.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Influence of nanocrystalline diamond on resonant properties of gold plasmonic antennas. PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE, 2016, vol. 213, no. 6, p. 1564-1571. ISSN: 1862-6300.Detail
FLAJŠMAN, L.; URBÁNEK, M.; KŘIŽÁKOVÁ, V.; VAŇATKA, M.; TURČAN, I.; ŠIKOLA, T. Vektorová Kerrova magnetometrie s vysokým prostorovým rozlišením. Jemná mechanika a optika, 2016, roč. 61, č. 6, s. 140-144. ISSN: 0447-6441.Detail
ELBADAWI, C.; TRAN, T.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T.; SCOTT, J.; CAI, Q.; LI, L.; TANIGUCHI, T.; WATANABE, K.; TOTH, M.; AHARONOVICH, I.; LOBO, C. Electron beam directed etching of hexagonal boron nitride. Nanoscale, 2016, vol. 8, no. 36, p. 16182-16186. ISSN: 2040-3372.Detail
ÉDES, Z.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Modeling of Plasmon-Enhanced Photoluminescence of Si Nanocrystals Embedded in Thin Silicon-Rich Oxinitride Layer. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2016, vol. 129, no. 1A, p. A70 (A72 p.)ISSN: 0587-4246.Detail
2015
KŘÁPEK, V.; KOH, A.; BŘÍNEK, L.; HRTOŇ, M.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; MAIER, S.; ŠIKOLA, T. Spatially resolved electron energy loss spectroscopy of crescent-shaped plasmonic antennas. OPTICS EXPRESS, 2015, vol. 23, no. 9, p. 11855-11867. ISSN: 1094-4087.Detail
PRŮŠA, S.; PROCHÁZKA, P.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.; TER VEEN, R.; FARTMANN, M.; GREHL, T.; BRÜNER, P.; ROTH, D.; BAUER, P.; BRONGERSMA, H. Highly Sensitive Detection of Surface and Intercalated Impurities in Graphene by LEIS. Langmuir, 2015, vol. 31, no. 35, p. 9628-9635. ISSN: 0743-7463.Detail
KŘÁPEK, V.; KLENOVSKÝ, P.; ŠIKOLA, T. Excitonic fine structure splitting in type-II quantum dots. PHYSICAL REVIEW B, 2015, vol. 92, no. 19, p. 195530-1 (195530-8 p.)ISSN: 1098-0121.Detail
NEUMAN, J.; NOVÁČEK, Z.; PAVERA, M.; ZLÁMAL, J.; KALOUSEK, R.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. Experimental optimization of power-function-shaped drive pulse for stick-slip piezo actuators. PRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY, 2015, vol. 42, no. 1, p. 187-194. ISSN: 0141-6359.Detail
URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; LAMBERT, C.; KAN, J.; EIBAGI, N.; VAŇATKA, M.; FLAJŠMAN, L.; KALOUSEK, R.; IM, M.; FISCHER, P.; ŠIKOLA, T.; FULLERTON, E. Dynamics and efficiency of magnetic vortex circulation reversal. PHYSICAL REVIEW B, 2015, vol. 91, no. 9, p. 094415-1 (094415-11 p.)ISSN: 1098-0121.Detail
BÁBOR, P.; DUDA, R.; POLČÁK, J.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Real-time observation of self-limiting SiO2/Si decomposition catalysed by gold silicide droplets. RSC Advances, 2015, vol. 5, no. 123, p. 101726-101731. ISSN: 2046-2069.Detail
2014
PROCHÁZKA, P.; MACH, J.; BISCHOFF, D.; LIŠKOVÁ, Z.; DVOŘÁK, P.; VAŇATKA, M.; SIMONET, P.; VARLET, A.; HEMZAL, D.; PETRENEC, M.; KALINA, L.; BARTOŠÍK, M.; ENSSLIN, K.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Ultrasmooth metallic foils for growth of high quality graphene by chemical vapor deposition. NANOTECHNOLOGY, 2014, vol. 25, no. 18, p. 185601-1 (185601-8 p.)ISSN: 0957-4484.Detail
ZALLO, E.; TROTTA, R.; KŘÁPEK, V.; HUO, Y.; ATKINSON, P.; DING, F.; ŠIKOLA, T.; RASTELLI, A.; SCHMIDT, O. Strain-induced active tuning of the coherent tunneling in quantum dot molecules. PHYSICAL REVIEW B, 2014, vol. 89, no. 24, p. 241303-1 (241303-5 p.)ISSN: 1098-0121.Detail
NEUMAN, J.; NOVÁČEK, Z.; PAVERA, M.; ŠULC, D.; WERTHEIMER, P.; VASKEVICH, A.; RUBINSTEIN, I.; ŠIKOLA, T. Příprava pravidelně uspořádaných ostrůvků zlata. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 199-201. ISSN: 0447-6441.Detail
KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Real-Time Observation of Collector Droplet Oscillations during Growth of Straight Nanowires. NANO LETTERS, 2014, vol. 14, no. 2, p. 1756-1761. ISSN: 1530-6984.Detail
ŠIMŠÍKOVÁ, M.; ČECHAL, J.; ZORKOVSKÁ, A.; ANTALÍK, M.; ŠIKOLA, T. Preparation of CuO/ZnO nanocomposite and its application as a cysteine / homocysteine colorimetric and fluorescence detector. COLLOIDS AND SURFACES B-BIOINTERFACES, 2014, vol. 123, no. 1, p. 951-958. ISSN: 0927-7765.Detail
ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; ŠIKOLA, T. Detachment Limited Kinetics of Gold Diffusion through Ultrathin Oxide Layers. Journal of Physical Chemistry C, 2014, vol. 118, no. 31, p. 17549-17555. ISSN: 1932-7447.Detail
DVOŘÁK, P.; LIGMAJER, F.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; KLEMENT, R.; BABOCKÝ, J.; TUČEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Využití reflexní optické spektroskopie v plazmonice. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 162-164. ISSN: 0447-6441.Detail
PROCHÁZKA, P.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; LIŠKOVÁ, Z.; DAVID, B.; HULVA, J.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. Shubnikovy-de Haasovy oscilace na grafenu připraveném metodou CVD. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 195-198. ISSN: 0447-6441.Detail
DRUCKMÜLLEROVÁ, Z.; KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Toward Site-Specific Dopant Contrast in Scanning Electron Microscopy. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, 2014, vol. 20, no. 4, p. 1312-1317. ISSN: 1431-9276.Detail
LIGMAJER, F.; DRUCKMÜLLEROVÁ, Z.; MĚCH, R.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Tvorba uspořádaných souborů kovových nanočástic na polovodičových substrátech a jejich charakterizace pomocí spektroskopické elipsometrie. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 178-180. ISSN: 0447-6441.Detail
GLAJC, P.; ZLÁMAL, J.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Návrh iontového zdroje se sedlovým polem a žhavenou katodou. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 181-183. ISSN: 0447-6441.Detail
LIŠKOVÁ, Z.; HAMMEROVÁ, V.; ZAHRADNÍČEK, R.; MACH, J.; PROCHÁZKA, P.; HULVA, J.; BARTOŠÍK, M.; ŠIKOLA, T. Měření Schotkyho grafen/Si přechodu metodou EBIC. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 189-191. ISSN: 0447-6441.Detail
ŠULC, D.; WERTHEIMER, P.; PAVERA, M.; NOVÁČEK, Z.; NEUMAN, J.; ŠIKOLA, T. Vývoj universálního zařízení pro rastrovací sondové mikroskopy. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 169-171. ISSN: 0447-6441.Detail
MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; VOBORNÝ, S.; BARTOŠÍK, M.; ŠIKOLA, T. Optimization of ion-atomic beam source for deposition of GaN ultrathin films. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2014, vol. 85, no. 8, p. 083302-1 (083302-5 p.)ISSN: 0034-6748.Detail
ŠAMOŘIL, T.; METELKA, O.; ŠIKOLA, T. Příprava mikro a nanostruktur pomocí selektivního mokrého leptání křemíku. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 192-195. ISSN: 0447-6441.Detail
2013
DVOŘÁK, P.; NEUMAN, T.; BŘÍNEK, L.; ŠAMOŘIL, T.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Control and Near-Field Detection of Surface Plasmon Interference Patterns. NANO LETTERS, 2013, vol. 13, no. 6, p. 2558-2563. ISSN: 1530-6984.Detail
NOVÁČEK, Z.; PAVERA, M.; NEUMAN, J.; ŠIKOLA, T. Systém pro charakterizaci a optimalizaci piezomotorů. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 190-193. ISSN: 0447-6441.Detail
LIŠKOVÁ, Z.; PROCHÁZKA, P.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; URBÁNEK, M.; LEDINSKÝ, M.; FEJFAR, A.; ŠIKOLA, T. Metody charakterizace grafenu. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447-6441.Detail
UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; HLADÍK, L.; SPOUSTA, J.; IM, M.; FISCHER, P.; EIBAGI, N.; KAN, J.; FULLERTON, E.; ŠIKOLA, T. Dynamic switching of the spin circulation in tapered magnetic nanodisks. Nature Nanotechnology, 2013, vol. 8, no. 5, p. 341-346. ISSN: 1748-3387.Detail
BŘÍNEK, L.; DVOŘÁK, P.; NEUMAN, T.; DUB, P.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 169-171. ISSN: 0447-6441.Detail
ŠULC, D.; WERTHEIMER, P.; PÁLENÍČEK, M.; VÁLEK, L.; ŠIKOLA, T. Zařízení pro analýzu křemíkových desek. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447-6441.Detail
BŘÍNEK, L.; ÉDES, Z.; DVOŘÁK, P.; NEUMAN, T.; ŠAMOŘIL, T.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Interference povrchových plazmonů v blízkém poli. Československý časopis pro fyziku, 2013, roč. 63, č. 4, s. 234-236. ISSN: 0009-0700.Detail
2012
KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NOVÁK, L.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Controlled faceting in (110) germanium nanowire growth by switching between vapor-liquid-solid and vapor-solid-solid growth. APPLIED PHYSICS LETTERS, 2012, vol. 100, no. 20, p. 203102-1 (203102-4 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
KOLÍBAL, M.; KONEČNÝ, M.; LIGMAJER, F.; ŠKODA, D.; VYSTAVĚL, T.; ZLÁMAL, J.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Guided Assembly of Gold Colloidal Nanoparticles on Silicon Substrates Prepatterned by Charged Particle Beams. ACS Nano, 2012, vol. 6, no. 11, p. 10098-10106. ISSN: 1936-0851.Detail
KALOUSEK, R.; DUB, P.; BŘÍNEK, L.; ŠIKOLA, T. Response of plasmonic resonant nanorods: an analytical approach to optical antennas. OPTICS EXPRESS, 2012, vol. 20, no. 16, p. 17916-17927. ISSN: 1094-4087.Detail
2011
KOLÍBAL, M.; MATLOCHA, T.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Low energy focused ion beam milling of silicon and germanium nanostructures. NANOTECHNOLOGY, 2011, vol. 22, no. 10, p. 105304-1 (105304-8 p.)ISSN: 0957-4484.Detail
BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF-LEIS profiling. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2011, vol. 269, no. 3, p. 369-373. ISSN: 0168-583X.Detail
KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; NOVÁK, L.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. In-situ observation of <110> oriented Ge nanowire growth and associated collector droplet behavior. APPLIED PHYSICS LETTERS, 2011, vol. 99, no. 14, p. 143113-1 (143113-3 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. An ultra-low energy (30–200 eV) ion-atomic beam source for ion-beam-assisted deposition in ultrahigh vacuum. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2011, vol. 82, no. 8, p. 083302-1 (083302-7 p.)ISSN: 0034-6748.Detail
2010
KOH, A.; TOMANEC, O.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T.; MAIER, S.; MCCOMB, D. HRTEM and EELS of nanoantenna structures fabricated using focused ion beam techniques. Journal of Physics: Conference Series, 2010, vol. 241, no. 1, p. 012041-1 (012041-4 p.)ISSN: 1742-6588.Detail
MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. SURFACE SCIENCE, 2010, vol. 604, no. 21-22, p. 1906-1911. ISSN: 0039-6028.Detail
LYSÁČEK, D.; VÁLEK, L.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T.; ŠPETÍK, R. Thermal stability of undoped polycrystalline silicon layers on antimony and boron-doped substrates. Thin Solid Films, 2010, vol. 518, no. 14, p. 4052-4057. ISSN: 0040-6090.Detail
POLČÁK, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; URBÁNEK, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2010, vol. 42, no. 5-6, p. 649-652. ISSN: 0142-2421.Detail
KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Stability of hydrogen-terminated silicon surface under ambient atmosphere. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2010, vol. 256, no. 11, p. 3423-2426. ISSN: 0169-4332.Detail
URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, vol. 21, no. 14, p. 145304-1 (145304-7 p.)ISSN: 0957-4484.Detail
ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2010, vol. 256, no. 11, p. 3636-3641. ISSN: 0169-4332.Detail
2009
ČECHAL, J.; TOMANEC, O.; ŠKODA, D.; KOŇÁKOVÁ, K.; HRNČÍŘ, T.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Selective growth of Co islands on ion beam induced nucleation centers in a native SiO2 film. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2009, vol. 105, no. 8, p. 084314-1 (084314-6 p.)ISSN: 0021-8979.Detail
ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Řízený růst kobaltových ostrůvků na křemíkovém substrátu. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 222-224. ISSN: 0447-6441.Detail
ŠKODA, D.; KALOUSEK, R.; TOMANEC, O.; BARTOŠÍK, M.; BŘÍNEK, L.; ŠUSTR, L.; ŠIKOLA, T. Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 219-222. ISSN: 0447-6441.Detail
POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 215-216. ISSN: 0447-6441.Detail
ČECHAL, J.; MATLOCHA, T.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Characterization of oxidized gallium droplets on silicon surface: an ellipsoidal droplet shape model for angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy analysis. Thin Solid Films, 2009, vol. 517, no. 6, p. 1928-1934. ISSN: 0040-6090.Detail
POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Využití termální desorpční spektroskopie při studiu povrchové kontaminace. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 217-218. ISSN: 0447-6441.Detail
SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; URBÁNEK, M.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev (aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti). Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 225-228. ISSN: 0447-6441.Detail
BARTOŠÍK, M.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Selective growth of metallic nanostructures on surfaces patterned by AFM local anodic oxidation. JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2009, vol. 9, no. 10, p. 5887-5890. ISSN: 1533-4880.Detail
BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NEUMAN, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Mechanika iontů jako prostředek k analýze nanosvěta. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 209-214. ISSN: 0447-6441.Detail
KOSTELNÍK, P.; ŠIKOLA, T.; SCHMID, M.; VARGA, P. A LEED study of NO superstructures on the Pd(111) surface. JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER, 2009, vol. 21, no. 13, p. 134005-1 (134005-7 p.)ISSN: 0953-8984.Detail
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, vol. 79, no. 19, p. 195406-195412. ISSN: 1098-0121.Detail
ŠIKOLA, T.; KEKATPURE, R.; BARNARD, E.; WHITE, J.; VAN DORPE, P.; BŘÍNEK, L.; TOMANEC, O.; ZLÁMAL, J.; LEI, D.; SONNEFRAUD, Y.; MAIER, S.; HUMLÍČEK, J.; BRONGERSMA, M. Mid-IR plasmonic antennas on silicon-rich oxinitride absorbing substrates: Nonlinear scaling of resonance wavelengths with antenna length. APPLIED PHYSICS LETTERS, 2009, vol. 95, no. 25, p. 253109-1 (253109-3 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
2008
KOLÍBAL, M.; ČECHAL, T.; KOLÍBALOVÁ, E.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Self-limiting cyclic growth of gallium droplets on Si(111). NANOTECHNOLOGY, 2008, vol. 19, no. 46, p. 475606-1 (475606-5 p.)ISSN: 0957-4484.Detail
MACH, J.; ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Atomic hydrogen induced gallium nanocluster formation on the Si(100) surface. SURFACE SCIENCE, 2008, vol. 602, no. 10, p. 1898-1902. ISSN: 0039-6028.Detail
ČECHAL, J.; LUKSCH, J.; KOŇÁKOVÁ, K.; URBÁNEK, M.; KOLÍBALOVÁ, E.; ŠIKOLA, T. Morphology of cobalt layers on native SiO2 surfaces at elevated temperatures: formation of Co islands. SURFACE SCIENCE, 2008, vol. 602, no. 15, p. 2693-2698. ISSN: 0039-6028.Detail
PLŠEK, R.; UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447-6441.Detail
TOMANEC, O.; HRNČÍŘ, T.; LOVICAR, L.; ŠUSTR, L.; BŘÍNEK, L.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Studium vlastností mikro- a nanostruktur v oblasti plazmoniky na Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447-6441.Detail
PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; ZEPPENFELD, P.; BAUER, P.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Quantitative analysis of ultra thin layer growth by time-of-flight low energy ion scattering. APPLIED PHYSICS LETTERS, 2008, vol. 92, no. 1, p. 011929-1 (011929-3 p.)ISSN: 0003-6951.Detail
2007
KOSTELNÍK, P.; SERIANI, N.; KRESSE, G.; MIKKELSEN, A.; LUNDGREN, E.; BLUM, V.; ŠIKOLA, T.; VARGA, P.; SCHMID, M. The Pd(100)-(SQRT(5)xSQRT(5))R27-O surface oxide: a LEED, DFT and STM study. SURFACE SCIENCE, 2007, vol. 601, no. 6, p. 1574-1581. ISSN: 0039-6028.Detail
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. The influence of humidity on the kinetics of local anodic oxidation. Journal of Physics: Conference Series, 2007, vol. 61, no. 0, p. 75-79. ISSN: 1742-6588.Detail
ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; KOSTELNÍK, P.; ŠIKOLA, T. Gallium structure on the Si(111)-(7 x 7) surface: influence of Ga coverage and temperature. JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER, 2007, vol. 19, no. 1, 15 p. ISSN: 0953-8984.Detail
ČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. SURFACE SCIENCE, 2007, vol. 601, no. 9, p. 2047-2053. ISSN: 0039-6028.Detail
URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; BĚHOUNEK, T.; ŠIKOLA, T. Imaging reflectometery in situ. Applied Optics, 2007, vol. 46, no. 25, p. 6309-6313. ISSN: 0003-6935.Detail
PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF-LEIS. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2007, vol. 111, no. 3, p. 335-341. ISSN: 0587-4246.Detail
KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; MARKIN, S.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2007, vol. 265, no. 2, p. 569-575. ISSN: 0168-583X.Detail
2006
ČERVENKA, J.; KALOUSEK, R.; BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(1 0 0) by local anodic oxidation. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2006, vol. 253, no. 5, p. 2373-2378. ISSN: 0169-4332.Detail
SPOUSTA, J.; URBÁNEK, M.; CHMELÍK, R.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; ŠIKOLA, T.; NAVRÁTIL, K. Vývoj zařízení k in-situ stanovení rozložení tlouštěk vrstev pomocí UV-VIS zobrazovací reflektometrie. 2006, roč. 51, č. 9, s. 239-245. ISSN: 0447-6411.Detail
KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; KOSTELNÍK, P.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by ToF-LEIS. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2006, vol. 249, no. 1-2, p. 318-321. ISSN: 0168-583X.Detail
ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. A study of the formation and oxidation of PtSi by SR-PES. SURFACE SCIENCE, 2006, vol. 600, no. 20, p. 4717-4722. ISSN: 0039-6028.Detail
2005
DRAXLER, M.; MARKIN, S.; KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T.; BAUER, P. High resolution time-of-flight low energy ion scattering. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2005, vol. 230, no. 0, p. 398-401. ISSN: 0168-583X.Detail
2004
VOBORNÝ, S.; MACH, J.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; TOMANEC, O.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Application of Complex UHV Apparaturus in a Study of Low-tepmerature Gallium-nitride Ultrathin Film Growth. Jemná mechanika a optika, 2004, vol. 9, no. 9, 5 p. ISSN: 0447-6441.Detail
KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BARTOŠÍK, M., TOMANEC, O., ŠIKOLA, T. Growth of gallium on sillicon: A TOF-LEIS and AFM study. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. 4 p. ISBN: 80-7355-024-5.Detail
BRANDEJSOVÁ, E.; ČECHAL, J.; BONAVENTUROVÁ, O.; NEBOJSA, A.; TICHOPÁDEK, P.; URBÁNEK, M.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.; HUMLÍČEK, J. In situ analysis of PMPSi thin films by spectroscopic ellipsometry. Jemná mechanika a optika, 2004, vol. 9, no. 9, 3 p. ISSN: 0447-6441.Detail
URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; SZOTKOWSKI, R.; CHMELÍK, R.; BUČEK, M.; ŠIKOLA, T. Instrument for thin film diagnostics by UV spectroscopic reflectometry. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2004, vol. 36, no. 8, 4 p. ISSN: 0142-2421.Detail
ŠIKOLA, T. Nanotechnology - vision or reality?. In New Trends in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. 4 p. ISBN: 80-7355-024-5.Detail
VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra-thin films. Thin Solid Films, 2004, vol. 459, no. 1-2, 5 p. ISSN: 0040-6090.Detail
KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. ToF-LEIS Analysis of ultra thin films: Ga and Ga-N layer growth on Si(111). SURFACE SCIENCE, 2004, vol. 566-568, no. 9, 5 p. ISSN: 0039-6028.Detail
KALOUSEK, R., ČERVENKA, J., BARTOŠÍK, M., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(100) by local anodic oxidation. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. 4 p. ISBN: 80-7355-024-5.Detail
VOBORNÝ, S., MACH, J., KOLÍBAL, M., ČECHAL, J., BÁBOR, P., POTOČEK, M., ŠIKOLA, T. A study of Early Periods of GaN Ultrathin Film Growth. In New Trends in Pysics. Brno: VUT v Brně, 2004. 4 p. ISBN: 80-7355-024-5.Detail
ČECHAL, J.; TICHOPÁDEK, P.; NEBOJSA, A.; BONAVENTUROVÁ, O.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2004, vol. 38, no. 8, 4 p. ISSN: 0142-2421.Detail
ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. A study of oxygen influence on PtSi formation by SR-PES. In New Trends in Phisics. Brno: VUT v Brně, 2004. 4 p. ISBN: 80-7355-024-5.Detail
KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. Jemná mechanika a optika, 2004, vol. 9, no. 9, 4 p. ISSN: 0447-6441.Detail
2003
ŠIKOLA, T. Nanotechnologie - vize či skutečnost?. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, 5 s. ISSN: 0009-0700.Detail
ŠKODA, D., KALOUSEK, R., BARTOŠÍK, M., MATUROVÁ, K., ŠIKOLA, T. Fabrication of Nanostructures by AFM. In EVC'03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. 2 p.Detail
URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, K., BUČEK, M., NEUGEBAUER, P., ŠIKOLA, T. Systém pro měření homogenity optických vlastností tenkých vrstev. 2003, roč. 48, č. 6, 3 s. ISSN: 0447-6411.Detail
ŠKODA, D., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., BURIAN, D., SPOUSTA, J., MATĚJKA, F., ŠIKOLA, T. Aplikace AFM v oblasti přípravy a studia nanostruktur. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, 4 s. ISSN: 0009-0700.Detail
ŠIKOLA, T. Nanotechnologie – současný stav. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. 4 s.Detail
VAIS, J.; ŽENÍŠEK, J.; MRÁZ, M.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; RAFAJA, D.; ŠIKOLA, T. Deposition of Cobalt Nitride Films by IBAD. In EVC 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. 1 p.Detail
VAIS, J., ŽENÍŠEK, J., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J., DITTRICHOVÁ, L., SPOUSTA, J., BOCHNÍČEK, Z., ŠIKOLA, T. Interface and depth profile analysis of magnetic ultrathin films. In ECASIA 10 Book of Abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. 1 p.Detail
BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS. Jemná mechanika a optika, 2003, roč. 48, č. 6, 4 s. ISSN: 0447-6441.Detail
KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BAUER, P., ŠIKOLA, T. TOF-LEIS analysis of ultra thin films: Ga- and Ga-N layer growth on Si (111). In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. 2 p.Detail
VOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T. Deposition and in situ characterization of ultra-thin films. In EVC'03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. 2 p.Detail
BÁBOR, P., KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T. Application of a simple imaging system in SIMS and TOF LEIS. In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. 2 p.Detail
URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, K., FIEDOR, M., CHMELÍK, R., BUČEK, M., ŠIKOLA, T. Instrument for Thin Films Diagnostics by UV Spectroscopic Reflectometry. In ECASIA '03 Book of abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. 1 p.Detail
ČECHAL, J., TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., BONAVENTUROVÁ - ZRZAVECKÁ, O., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., ŠIKOLA, T. In-situ analysis of PMPSI by spectroscopic ellipsometry and XPS. In ECASIA 10 Book of Abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. 1 p.Detail
DOHNAL, M.; PLEŠEK, M.; TVARŮŽEK, P.; ŠKODA, D.; ŠIKOLA, T. Characterization of polyolefinic hollow fibers membrane at a microscopic level. In Permea 2003 Proceedings of the Membrane Science and Technology Conference of the Visegrad Countries with Wider International Participation. Bratislava: Slovak Society of Chemical Engineering, 2003. 1 p. ISBN: 80-227-1922-6.Detail
PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF LEIS. In EVC'03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. 2 p.Detail
KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Noncontact Atomic Force Microscopy - Simulated Images of Real Surface Structures. In ECASIA '03 Book of abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. 1 p.Detail
KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. AFM – zařízení pro mikroskopii povrchů a nanotechnologie. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. 3 s.Detail
KALOUSEK, R., ŠKODA, D., LOPOUR, F., ŠIKOLA, T. Simulace zobrazení povrchů pomocí bezkontaktní metody AFM. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, 4 s. ISSN: 0009-0700.Detail
2002
ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., BÁBOR, P., BUŠ, V., ŠKODA, D., DUARTE, J. Application of SPM in surface studies and nanotechnology. 2002, vol. 47, no. 6-7, 4 p. ISSN: 0447-6411.Detail
ROUČKA, R., JIRUŠE, J., ŠIKOLA, T. Spot intensity processing in LEED images. Vacuum, 2002, vol. 65, no. 2, 6 p. ISSN: 0042-207X.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., ŠKODA, D., MATĚJKA, F., KALOUSEK, R. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2002, vol. 34, no. 1, 4 p. ISSN: 0142-2421.Detail
SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., JIRUŠE, J., CHMELÍK, R., NEBOJSA, A. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2002, vol. 34, no. 1, 4 p. ISSN: 0142-2421.Detail
TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., ČECHAL, J., JURKOVIČ, P., BÁBOR, P. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2002, vol. 34, no. 1, 4 p. ISSN: 0142-2421.Detail
2001
PÁTÍK, K.; ŠIKOLA, T.; LOPOUR, F. Design of Piezoelectric Manipulators for an Application in SPM instruments. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. 4 p. ISBN: 80-214-1992-X.Detail
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P. Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. 6 p. ISBN: 80-214-1992-X.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. Fabrication of nanostructures by AFM local Oxidation. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. 6 p. ISBN: 80-214-1992-X.Detail
ŠIKOLA, T. Surfaces and Interfaces - Presence and Perspectives. In Juniormat '01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. 4 p.Detail
SPOUSTA, J., URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. 1 p.Detail
JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P., ČECHAL, J. Studium ultratenkých vrstevnatých struktur. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. 5 s. ISBN: 80-214-1992-X.Detail
URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., CHMELÍK, R., HARNA, Z., JIRUŠE, J., JÁKL, M. In situ plošné monitorování optických parametrů tenkých vrstev. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, 3 s. ISSN: 0447-6441.Detail
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P. Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis. In Juniormat '01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. 5 p.Detail
DUB, P., SVĚTLÍK, J., ŠTRUNC, M., KOMRSKA, J., ZDRAŽIL, V., LIŠKA, M., DĚDEK, L., TOMÁNEK, P., LENCOVÁ, B., HORÁK, M., ŠIKOLA, T., BARTLOVÁ, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, V., HOLÝ, V., MITVALSKÝ, V., MUSILOVÁ, J., HOUFEK, K., ECKERTOVÁ, L., HAVRÁNEK, A., OBDRŽÁLEK, J., NOVOTNÝ, J., LENC, M., CHVOSTA, P., BOCHNÍČEK, Z. Fyzika. In Fyzika. Překlady vysokoškolských učebnic. Brno: Vutium Brno, 2001. 1201 s. ISBN: 80-214-1869-9.Detail
ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, 4 s. ISSN: 0009-0700.Detail
VOBORNÝ, S., ŠIKOLA, T., PRŮŠA, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Diagnostics and optimization of ion source parameters. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. 6 p. ISBN: 80-214-1992-X.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. 1 p.Detail
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. 8 p. ISBN: 80-214-1892-3.Detail
KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., ŠKODA, D., BUŠ, V. Noncontact Scanning Force Microscopy – a Computer Simulation of Resolution Limits. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. 1 p.Detail
KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Fyzikální principy a limity rozlišení bezkontaktní metody AFM - simulace oscilací raménka. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, 6 s. ISSN: 0009-0700.Detail
LOPOUR, F., KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, 4 s. ISSN: 0447-6441.Detail
TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. 1 p.Detail
TICHOPÁDEK, P.; ŠIKOLA, T.; NEBOJSA, A.; ČECHAL, J. Application of Spectroscopic Ellipsometry in Ultrathin Film Analysis. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. 5 p. ISBN: 80-214-1992-X.Detail
KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., BUŠ, V., ŠKODA, D. Noncontact Scanning Force Microscopy - Principles and Simulations. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. 6 p. ISBN: 80-214-1992-X.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. AFM - a Tool for a Study of Surfaces, Micro- and Nanostructures. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. 6 p. ISBN: 80-214-1892-3.Detail
2000
KALOUSEK, R., LOPOUR, F., ŠIKOLA, T. Fyzikální principy a limity rozlišení bezkontaktní metody AFM- simulace oscilací raménka. In 2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách. Praha: FÚ AVČR, 2000. 1 s.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., BÁBOR, P., DUARTE, J., MATĚJKA, F. Etching of Microstructures and Modification of Solid Surfaces by Low Energy Ion Beams. In MicroMat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. 4 p.Detail
ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., TICHOPÁDEK, P., KRÁL, J., RAFAJA, D., RANNO, L. Deposition of Thin Films/Multilayers by IBAD. In procedings of conference Metal 2000. Ostrava: VŠB Ostrava, 2000. 1 p.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D., MATĚJKA, F. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. In 2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách. Praha: FÚ AVČR, 2000. 1 s.Detail
URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films. In Micromat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. 6 p.Detail
URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., CHMELÍK, R., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Zařízení k in situ sledování plošné homogenity růstu tenkých neabsorbujících vrstev. In Sborník abstraktů přednášek konference Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkum a aplikacích. Brno: MU Brno, 2000. 1 s.Detail
KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Vibrational Analysis of the Cantilever in noncontact Scanning Force Microscopy. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2000, vol. 30, no. 1, 4 p. ISSN: 0142-2421.Detail
1994
ŠIKOLA, T., ARMOUR, D., VAN DEN BERG, J. An in situ study of processes taking place on a silicon surface during bombardment by CFx/Ar ions - etching versus polymerization. In SASP 94 - Symposium on atomic, cluster and surface physics. Hintermoos/Maria Alm, Univ. Innsbruck: Institut für Ionenphysik, Universität Innsbruck, 1994. 7 p. ISBN: 0.Detail
KLOK, P.; VIEWEGH, P.; LIŠKA, P.; KRATOCHVÍL, M.; GAVRANOVIĆ, S.; ULČ, F.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Nanoscale Optoelectronic Insights into CsPbBr3: Advanced Characterization of Charge Carrier Dynamics. Microscopy 2024. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, p. 63-64. ISBN: 978-80-909216-0-3.Detail
*) Citace se generují jednou za 24 hodin.