Detail publikačního výsledku

Analysis of thin films by TOF LEIS

PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T.

Originální název

Analysis of thin films by TOF LEIS

Anglický název

Analysis of thin films by TOF LEIS

Druh

Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus

Originální abstrakt

Structural analysis using TOF LEIS.

Anglický abstrakt

Structural analysis using TOF LEIS.

Klíčová slova v angličtině

TOF LEIS, Ga, thin films

Autoři

PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T.

Vydáno

23.06.2003

Nakladatel

EVC

Místo

Berlin

Kniha

EVC'03 Abstracts

Strany od

133

Strany počet

2

BibTex

@inproceedings{BUT11057,
  author="Stanislav {Průša} and Miroslav {Kolíbal} and Petr {Bábor} and Jindřich {Mach} and Patrik {Jurkovič} and Tomáš {Šikola}",
  title="Analysis of thin films by TOF LEIS",
  booktitle="EVC'03 Abstracts",
  year="2003",
  pages="2",
  publisher="EVC",
  address="Berlin"
}