Detail publikačního výsledku

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.

URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J.

Originální název

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.

Anglický název

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.

Druh

Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus

Originální abstrakt

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films

Anglický abstrakt

Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films

Klíčová slova v angličtině

thin films

Autoři

URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J.

Vydáno

17.04.2000

Nakladatel

Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht

Místo

Berlin

Kniha

Micromat 2000

Strany od

604

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT4155,
  author="Michal {Urbánek} and Tomáš {Šikola} and Alois {Nebojsa} and Jiří {Spousta} and Libuše {Dittrichová} and Radim {Chmelík} and Jakub {Zlámal} and Jaroslav {Jiruše}",
  title="Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.",
  booktitle="Micromat 2000",
  year="2000",
  pages="6",
  publisher="Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht",
  address="Berlin"
}