Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
prof. RNDr.
Ph.D.
FSI, ÚFI OFPN – profesor
+420 54114 2848spousta@fme.vutbr.cz
Odeslat VUT zprávu
2025
NOVÁČEK, Z.; ZEZULKA, L.; KONEČNÝ, M.; PALOUDA, A.; VACEK, M.; KOLOMÝ, Š.; SPOUSTA, J.; SUPALOVÁ, L.; ČERNEK, O.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Vacuum micromanipulator upgrading a scanning electron microscope to a new fabrication and characterization tool. Vacuum, 2025, vol. 238, iss. 114290, p. 1-8. ISSN: 1879-2715.
Článek WoS
KLOK, P.; LIŠKA, P.; KŘÁPEK, V.; ČERNEK, O.; NOVÁČEK, Z.; ŠAMOŘIL, T.; BOUCHAL, P.; KRATOCHVÍL, M.; ULČ, F.; ČECHÁČEK, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T.; VIEWEGH, P. Applying time-resolved photoluminescence in scanning near-field optical microscopy to map charge-carrier dynamics in CsPbBr3 nanocrystals. Journal of applied physics, 2025, vol. 138, iss. 22, p. 1-11.
ZEZULKA, L.; NOVÁČEK, Z.; KONEČNÝ, M.; MATĚJKA, M.; CERNY, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Exchangeable scanning probe microscopy optical fiber tips. In Proceedings of SPIE. Proceedings of SPIE. BELLINGHAM: SPIE-INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2025. p. 1-4. ISBN: 978-1-5106-9187-2.
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
2022
PIASTEK, J.; MACH, J.; BÁRDY, S.; ÉDES, Z.; BARTOŠÍK, M.; MANIŠ, J.; ČALKOVSKÝ, V.; KONEČNÝ, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Correlative Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy: The Role of Single Ga Islands in Surface-Enhanced Raman Spectroscopy of Graphene. Journal of Physical Chemistry C, 2022, vol. 126, iss. 9, p. 4508-4514. ISSN: 1932-7455.
2018
BŘÍNEK, L.; KVAPIL, M.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Plasmon Resonances of Mid-IR Antennas on Absorbing Substrate: Optimization of Localized Plasmon-Enhanced Absorption upon Strong Coupling Effect. ACS Photonics, 2018, vol. 5, iss. 11, p. 4378-4385. ISSN: 2330-4022.
2017
KALOUSEK, R.; SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T.; SHEN, Z.; SALAMON, D.; MACA, K. Rapid heating of zirconia nanoparticle-powder compacts by infrared radiation heat transfer. Journal of the European Ceramic Society, 2017, vol. 37, iss. 3, p. 1067-1072. ISSN: 0955-2219.
DVOŘÁK, P.; ÉDES, Z.; KVAPIL, M.; ŠAMOŘIL, T.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; DUB, P.; SPOUSTA, J.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Imaging of near-field interference patterns by a-SNOM – influence of illumination wavelength and polarization state. OPTICS EXPRESS, 2017, vol. 25, iss. 14, p. 16560-16573. ISSN: 1094-4087.
2016
DVOŘÁK, P.; KOLÍBAL, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Fotoluminiscence h-BN detekována pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli. Jemná mechanika a optika, 2016, roč. 61, č. 6, s. 149-150. ISSN: 0447-6441.
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
2015
NEUMAN, J.; NOVÁČEK, Z.; PAVERA, M.; ZLÁMAL, J.; KALOUSEK, R.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. Experimental optimization of power-function-shaped drive pulse for stick-slip piezo actuators. PRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY, 2015, vol. 42, iss. 1, p. 187-194. ISSN: 0141-6359.
2014
DVOŘÁK, P.; LIGMAJER, F.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; KLEMENT, R.; BABOCKÝ, J.; TUČEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Využití reflexní optické spektroskopie v plazmonice. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 162-164. ISSN: 0447-6441.
2013
UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; HLADÍK, L.; SPOUSTA, J.; IM, M.; FISCHER, P.; EIBAGI, N.; KAN, J.; FULLERTON, E.; ŠIKOLA, T. Dynamic switching of the spin circulation in tapered magnetic nanodisks. Nature Nanotechnology, 2013, vol. 8, iss. 5, p. 341-346. ISSN: 1748-3387.
2012
SPOUSTA, J.; PRŮŠA, S.; TROJÁNEK, A.; DUB, P. Kvalitní učebnice fyziky - důležitá opora výuky. Československý časopis pro fyziku, 2012, roč. 62, č. 5-6, s. 421-425. ISSN: 0009-0700.
2011
MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. An ultra-low energy (30–200 eV) ion-atomic beam source for ion-beam-assisted deposition in ultrahigh vacuum. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2011, vol. 82, iss. 8, p. 083302-1 (083302-7 p.)ISSN: 0034-6748.
2010
LYSÁČEK, D.; VÁLEK, L.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T.; ŠPETÍK, R. Thermal stability of undoped polycrystalline silicon layers on antimony and boron-doped substrates. Thin Solid Films, 2010, vol. 518, iss. 14, p. 4052-4057. ISSN: 0040-6090.
URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, vol. 21, iss. 14, p. 145304-1 (145304-7 p.)ISSN: 0957-4484.
2009
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, vol. 79, iss. 19, p. 195406-195412. ISSN: 1098-0121.
SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; URBÁNEK, M.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev (aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti). Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 225-228. ISSN: 0447-6441.
2008
PLŠEK, R.; UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447-6441.
SPOUSTA, J. Malé velké věci aneb příprava a analýza nanostruktur v laboratořích Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Československý časopis pro fyziku, 2008, roč. 58, č. 2, s. 87-90. ISSN: 0009-0700.
TOMANEC, O.; HRNČÍŘ, T.; LOVICAR, L.; ŠUSTR, L.; BŘÍNEK, L.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Studium vlastností mikro- a nanostruktur v oblasti plazmoniky na Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447-6441.
2007
URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; BĚHOUNEK, T.; ŠIKOLA, T. Imaging reflectometery in situ. Applied Optics, 2007, vol. 46, iss. 25, p. 6309-6313. ISSN: 0003-6935.
KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; MARKIN, S.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2007, vol. 265, iss. 2, p. 569-575. ISSN: 0168-583X.
ČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. SURFACE SCIENCE, 2007, vol. 601, iss. 9, p. 2047-2053. ISSN: 0039-6028.
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. The influence of humidity on the kinetics of local anodic oxidation. Journal of Physics: Conference Series, 2007, vol. 61, iss. 0, p. 75-79. ISSN: 1742-6588.
2006
SPOUSTA, J.; URBÁNEK, M.; CHMELÍK, R.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; ŠIKOLA, T.; NAVRÁTIL, K. Vývoj zařízení k in-situ stanovení rozložení tlouštěk vrstev pomocí UV-VIS zobrazovací reflektometrie. 2006, roč. 51, č. 9, s. 239-245. ISSN: 0447-6411.
2005
CHMELÍK, R.; LOVICAR, L.; KOLMAN, P.; SPOUSTA, J.; FORET, Z. Polychromatic coherent transfer function for a low-coherence interference microscope with achromatic fringes. In Focus on Microscopy 2005 - Jena, Germany. March 20-23, 2005. Appendix to the abstract book. Jena, Germany: 2005. p. 120
2004
VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra-thin films. Thin Solid Films, 2004, vol. 459, iss. 1-2, p. 1-5. ISSN: 0040-6090.
ČECHAL, J.; TICHOPÁDEK, P.; NEBOJSA, A.; BONAVENTUROVÁ, O.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2004, vol. 38, iss. 8, p. 1-4. ISSN: 0142-2421.
VOBORNÝ, S.; MACH, J.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; TOMANEC, O.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Application of Complex UHV Apparaturus in a Study of Low-tepmerature Gallium-nitride Ultrathin Film Growth. Jemná mechanika a optika, 2004, vol. 9, iss. 9, p. 1-5. ISSN: 0447-6441.
URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; SZOTKOWSKI, R.; CHMELÍK, R.; BUČEK, M.; ŠIKOLA, T. Instrument for thin film diagnostics by UV spectroscopic reflectometry. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2004, vol. 36, iss. 8, p. 1-4. ISSN: 0142-2421.
2003
ŠKODA, D., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., BURIAN, D., SPOUSTA, J., MATĚJKA, F., ŠIKOLA, T. Aplikace AFM v oblasti přípravy a studia nanostruktur. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 1-4. ISSN: 0009-0700.
VAIS, J., ŽENÍŠEK, J., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J., DITTRICHOVÁ, L., SPOUSTA, J., BOCHNÍČEK, Z., ŠIKOLA, T. Interface and depth profile analysis of magnetic ultrathin films. In ECASIA 10 Book of Abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. p. 226
VOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T. Deposition and in situ characterization of ultra-thin films. In EVC'03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. p. 1-2.
VAIS, J.; ŽENÍŠEK, J.; MRÁZ, M.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; RAFAJA, D.; ŠIKOLA, T. Deposition of Cobalt Nitride Films by IBAD. In EVC 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. p. 116
URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, K., FIEDOR, M., CHMELÍK, R., BUČEK, M., ŠIKOLA, T. Instrument for Thin Films Diagnostics by UV Spectroscopic Reflectometry. In ECASIA '03 Book of abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. p. 284
URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, K., BUČEK, M., NEUGEBAUER, P., ŠIKOLA, T. Systém pro měření homogenity optických vlastností tenkých vrstev. 2003, roč. 48, č. 6, s. 1-3. ISSN: 0447-6411.
2002
SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., JIRUŠE, J., CHMELÍK, R., NEBOJSA, A. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2002, vol. 34, iss. 1, p. 1-4. ISSN: 0142-2421.
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., ŠKODA, D., MATĚJKA, F., KALOUSEK, R. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2002, vol. 34, iss. 1, p. 1-4. ISSN: 0142-2421.
2001
SPOUSTA, J., URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. p. 295
DUB, P., SVĚTLÍK, J., ŠTRUNC, M., KOMRSKA, J., ZDRAŽIL, V., LIŠKA, M., DĚDEK, L., TOMÁNEK, P., LENCOVÁ, B., HORÁK, M., ŠIKOLA, T., BARTLOVÁ, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, V., HOLÝ, V., MITVALSKÝ, V., MUSILOVÁ, J., HOUFEK, K., ECKERTOVÁ, L., HAVRÁNEK, A., OBDRŽÁLEK, J., NOVOTNÝ, J., LENC, M., CHVOSTA, P., BOCHNÍČEK, Z. Fyzika. In Fyzika. Překlady vysokoškolských učebnic. Brno: Vutium Brno, 2001. 1201 s. ISBN: 80-214-1869-9.
Kapitola, resp. kapitoly v odborné knize
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. p. 1-8. ISBN: 80-214-1892-3.
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. p. 320
2000
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., BÁBOR, P., DUARTE, J., MATĚJKA, F. Etching of Microstructures and Modification of Solid Surfaces by Low Energy Ion Beams. In MicroMat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. p. 1-4.
ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., TICHOPÁDEK, P., KRÁL, J., RAFAJA, D., RANNO, L. Deposition of Thin Films/Multilayers by IBAD. In procedings of conference Metal 2000. Ostrava: VŠB Ostrava, 2000. p. 81
URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., CHMELÍK, R., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Zařízení k in situ sledování plošné homogenity růstu tenkých neabsorbujících vrstev. In Sborník abstraktů přednášek konference Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkum a aplikacích. Brno: MU Brno, 2000. s. 17
URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films. In Micromat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. p. 1-6.
KLOK, P.; VIEWEGH, P.; LIŠKA, P.; KRATOCHVÍL, M.; GAVRANOVIĆ, S.; ULČ, F.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Nanoscale Optoelectronic Insights into CsPbBr3: Advanced Characterization of Charge Carrier Dynamics. Microscopy 2024. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, p. 63.ISBN: 978-80-909216-0-3.
Abstrakt
*) Citace se generují jednou za 24 hodin.