Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
prof. RNDr.
Ph.D.
FSI, ÚFI OFPN – profesor
+420 54114 2848spousta@fme.vutbr.cz
Odeslat VUT zprávu
2023
ZEZULKA, L.; ČERNEK, O.; NOVÁČEK, Z.; SPOUSTA, J.; KONEČNÝ, M.: Multifunkční sonda; Multifunkční SPM sonda nové generace. Multifunkční SPM sonda nové generace bude využívána na mikroskopech SPM LiteScope a SEM Vega ve sdílených čistých laboratořích Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně, Technická 2, budova A2.. (Funkční vzorek)Detail
2022
DOSTÁL, Z.; SPOUSTA, J.; HEKRLOVÁ, K.; ČERNEK, O.: přetlaková komora; Přetlaková zaváděcí komůrka. laboratoře Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně, Technická 2. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/. (Funkční vzorek)Detail
NOVÁČEK, Z.; PALOUDA, A.; ČERNEK, O.; VACEK, M.; KOLOMÝ, Š.; KONEČNÝ, M.; SPOUSTA, J.: Optická CL měřicí sestava - Adamova koule; Optické měřicí detekční zařízení: měření katodoluminiscence. Optická CL měřicí sestava bude připojená ke komoře elektronového mikroskopu VEGA (firma TESCAN Brno) ve sdílených laboratořích Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně, Technická 2.. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/. (Funkční vzorek)Detail
KONEČNÝ, M.; ŠVÁBÍK, M.; ČERNEK, O.; NOVÁČEK, Z.; SPOUSTA, J.: Optická sestava pro Ramanovu spektroskopii; Optické měřící detekční zařízení: Ramanova spektroskopie a. Optická sestava pro Ramanovu spektroskopii bude připojená ke komoře elektronového mikroskopu Vega (firma Tescan Brno) ve sdílených laboratořích Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně, Technická 2.. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/. (Funkční vzorek)Detail
SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T.; ČERNEK, O.; DOSTÁL, Z.; PAVERA, M.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, Veveří, CZ NenoVision, Brno, Medlánky, CZ: Rastrovací sonda s dutým optickým vláknem. 309362, Patent. (2022)Detail
2008
URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T.: Aparatura na měření GMR; Aparatura pro měření magnetotransportních vlastností tenkých vrstev a nanostruktur. A2/518. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (Funkční vzorek)Detail
2007
SPOUSTA, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T.; CHMELÍK, R.: Plošný spektrofotometr; Zobrazovací in situ reflektometr. A2/518. (Funkční vzorek)Detail
2006
URBÁNEK, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.: Spektra3; Spektra3. jakékoliv PC. (Software)Detail
*) Citace se generují jednou za 24 hodin.