Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
doc. Ing.
Ph.D.
FSI, ÚFI – docent
+420 54114 2813bartosik@fme.vutbr.cz
Odeslat VUT zprávu
2025
SUPALOVÁ, L.; BARTOŠÍK, M.; ŠVARC, V.; MACH, J.; PIASTEK, J.; ŠPAČEK, O.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. High-Temperature Ultrasensitive FET-Based CVD Graphene Hall Probes. ACS Applied Electronic Materials, 2025, vol. 7, no. 13, p. 5889-5897. ISSN: 2637-6113.Detail
2024
BARTOŠÍK, M.; MACH, J., EDELMANNOVÁ M. F., KOČÍ, K. Next-generation photocatalytic system: Ga2O3-modified Ga Nanoislands on graphene for H2 production. 2024, vol. 191, no. June, p. 1-8. ISSN: 2950-6492.Detail
ČALKOVSKÝ, V.; MACH, J.; BARTOŠÍK, M.; PIASTEK, J.; KOSTKA, M.; MIKERÁSEK, V.; SUPALOVÁ, L.; KONEČNÝ, M.; KVAPIL, M.; HORÁK, M.; ŠIKOLA, T. Preparation of GaN Nanocrystals with Single Ag Cores. 2024, vol. 24, no. 19, p. 7904-7909. ISSN: 1528-7505.Detail
2023
NEZVAL, D.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠVARC, V.; KONEČNÝ, M.; PIASTEK, J.; ŠPAČEK, O.; ŠIKOLA, T. DFT study of water on graphene: Synergistic effect of multilayer p-doping. 2023, vol. 159, no. 21, 10 p. ISSN: 1089-7690.Detail
ŠVARC, V.; BARTOŠÍK, M.; KONEČNÝ, M.; PIASTEK, J.; NEZVAL, D.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Side charge propagation in simultaneous KPFM and transport measurement of humidity exposed graphene FET sensor. 2023, vol. 215, no. 1, 12 p. ISSN: 1873-3891.Detail
2022
GABLECH, I.; BRODSKÝ, J.; VYROUBAL, P.; PIASTEK, J.; BARTOŠÍK, M.; PEKÁREK, J. Mechanical strain and electric-field modulation of graphene transistors integrated on MEMS cantilevers. JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE, 2022, vol. 57, no. 3, p. 1923-1935. ISSN: 0022-2461.Detail
MANIŠ, J.; MACH, J.; BARTOŠÍK, M.; ŠAMOŘIL, T.; HORÁK, M.; ČALKOVSKÝ, V.; NEZVAL, D.; KACHTÍK, L.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. Low temperature 2D GaN growth on Si(111) 7 x 7 assisted by hyperthermal nitrogen ions. Nanoscale Advances, 2022, vol. 1, no. 1, p. 1-8. ISSN: 2516-0230.Detail
PIASTEK, J.; MACH, J.; BÁRDY, S.; ÉDES, Z.; BARTOŠÍK, M.; MANIŠ, J.; ČALKOVSKÝ, V.; KONEČNÝ, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Correlative Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy: The Role of Single Ga Islands in Surface-Enhanced Raman Spectroscopy of Graphene. 2022, vol. 126, no. 9, p. 4508-4514. ISSN: 1932-7455.Detail
2020
NEZVAL, D.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; PIASTEK, J.; ŠVARC, V.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. Density functional study of gallium clusters on graphene: electronic doping and diffusion. 2020, vol. 33, no. 2, p. 1-7. ISSN: 1361-648X.Detail
BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; PIASTEK, J.; NEZVAL, D.; KONEČNÝ, M.; ŠVARC, V.; ENSSLIN, K.; ŠIKOLA, T. Mechanism and Suppression of Physisorbed-Water-Caused Hysteresis in Graphene FET Sensors. ACS Sensors, 2020, vol. 5, no. 9, p. 2940-2949. ISSN: 2379-3694.Detail
2019
MACH, J.; PIASTEK, J.; MANIŠ, J.; ČALKOVSKÝ, V.; ŠAMOŘIL, T.; FLAJŠMANOVÁ, J.; BARTOŠÍK, M.; VOBORNÝ, S.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. Low temperature selective growth of GaN single crystals on pre-patterned Si substrates. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2019, vol. 497, no. 143705, p. 1-7. ISSN: 0169-4332.Detail
2018
KONEČNÝ, M.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠVARC, V.; NEZVAL, D.; PIASTEK, J.; PROCHÁZKA, P.; CAHLÍK, A.; ŠIKOLA, T. Kelvin Probe Force Microscopy and Calculation of Charge Transport in a Graphene/Silicon Dioxide System at Different Relative Humidity. ACS Applied Materials & Interfaces, 2018, vol. 10, no. 14, p. 11987-11994. ISSN: 1944-8244.Detail
KONEČNÝ, M.; HEGROVÁ, V.; PROCHÁZKA, P.; PIASTEK, J.; LIGMAJER, F.; BARTOŠÍK, M.; ŠIKOLA, T. Příprava a využití grafen-kovových hybridních struktur pro biodetekci metodou povrchem zesílené Ramanovy spektroskopie. Jemná mechanika a optika, 2018, roč. 63, č. 9, s. 261-263. ISSN: 0447-6441.Detail
2017
BARTOŠÍK, M.; KORMOŠ, L.; FLAJŠMAN, L.; KALOUSEK, R.; MACH, J.; LIŠKOVÁ, Z.; NEZVAL, D.; ŠVARC, V.; ŠAMOŘIL, T.; ŠIKOLA, T. Nanometer-Sized Water Bridge and Pull-Off Force in AFM at Different Relative Humidities: Reproducibility Measurement and Model Based on Surface Tension Change. JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY B, 2017, vol. 121, no. 3, p. 610-619. ISSN: 1520-6106.Detail
MACH, J.; PROCHÁZKA, P.; BARTOŠÍK, M.; NEZVAL, D.; PIASTEK, J.; HULVA, J.; ŠVARC, V.; KONEČNÝ, M.; KORMOŠ, L.; ŠIKOLA, T. Electronic transport properties of graphene doped by gallium. NANOTECHNOLOGY, 2017, vol. 28, no. 41, p. 1-10. ISSN: 0957-4484.Detail
2014
PROCHÁZKA, P.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; LIŠKOVÁ, Z.; DAVID, B.; HULVA, J.; KONEČNÝ, M.; ŠIKOLA, T. Shubnikovy-de Haasovy oscilace na grafenu připraveném metodou CVD. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 195-198. ISSN: 0447-6441.Detail
PROCHÁZKA, P.; MACH, J.; BISCHOFF, D.; LIŠKOVÁ, Z.; DVOŘÁK, P.; VAŇATKA, M.; SIMONET, P.; VARLET, A.; HEMZAL, D.; PETRENEC, M.; KALINA, L.; BARTOŠÍK, M.; ENSSLIN, K.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Ultrasmooth metallic foils for growth of high quality graphene by chemical vapor deposition. NANOTECHNOLOGY, 2014, vol. 25, no. 18, p. 185601-1 (185601-8 p.)ISSN: 0957-4484.Detail
LIŠKOVÁ, Z.; HAMMEROVÁ, V.; ZAHRADNÍČEK, R.; MACH, J.; PROCHÁZKA, P.; HULVA, J.; BARTOŠÍK, M.; ŠIKOLA, T. Měření Schotkyho grafen/Si přechodu metodou EBIC. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 189-191. ISSN: 0447-6441.Detail
MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; VOBORNÝ, S.; BARTOŠÍK, M.; ŠIKOLA, T. Optimization of ion-atomic beam source for deposition of GaN ultrathin films. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2014, vol. 85, no. 8, p. 083302-1 (083302-5 p.)ISSN: 0034-6748.Detail
2013
LIŠKOVÁ, Z.; PROCHÁZKA, P.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; URBÁNEK, M.; LEDINSKÝ, M.; FEJFAR, A.; ŠIKOLA, T. Metody charakterizace grafenu. Jemná mechanika a optika, 2013, roč. 58, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447-6441.Detail
2010
KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Stability of hydrogen-terminated silicon surface under ambient atmosphere. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2010, vol. 256, no. 11, p. 3423-2426. ISSN: 0169-4332.Detail
2009
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, vol. 79, no. 19, p. 195406-195412. ISSN: 1098-0121.Detail
ŠKODA, D.; KALOUSEK, R.; TOMANEC, O.; BARTOŠÍK, M.; BŘÍNEK, L.; ŠUSTR, L.; ŠIKOLA, T. Studium optických vlastností nanostruktur pomocí mikroskopie blízkého pole. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7-8, s. 219-222. ISSN: 0447-6441.Detail
BARTOŠÍK, M.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Selective growth of metallic nanostructures on surfaces patterned by AFM local anodic oxidation. JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2009, vol. 9, no. 10, p. 5887-5890. ISSN: 1533-4880.Detail
2007
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. The influence of humidity on the kinetics of local anodic oxidation. Journal of Physics: Conference Series, 2007, vol. 61, no. 0, p. 75-79. ISSN: 1742-6588.Detail
2006
ČERVENKA, J.; KALOUSEK, R.; BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(1 0 0) by local anodic oxidation. APPLIED SURFACE SCIENCE, 2006, vol. 253, no. 5, p. 2373-2378. ISSN: 0169-4332.Detail
2004
KALOUSEK, R., ČERVENKA, J., BARTOŠÍK, M., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(100) by local anodic oxidation. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. 4 p. ISBN: 80-7355-024-5.Detail
KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BARTOŠÍK, M., TOMANEC, O., ŠIKOLA, T. Growth of gallium on sillicon: A TOF-LEIS and AFM study. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. 4 p. ISBN: 80-7355-024-5.Detail
2003
ŠKODA, D., KALOUSEK, R., BARTOŠÍK, M., MATUROVÁ, K., ŠIKOLA, T. Fabrication of Nanostructures by AFM. In EVC'03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. 2 p.Detail
*) Citace se generují jednou za 24 hodin.