doc. Ing.

Petr Bábor

Ph.D.

FSI, ÚFI OFPN – docent

+420 54114 2783
babor@fme.vutbr.cz

Odeslat VUT zprávu

doc. Ing. Petr Bábor, Ph.D.

Aplikované výsledky

  • 2023

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; ZDRÁHAL, J.: xx; Laserově odolný reflexní optický element pro 2 000 nm. xx. (Funkční vzorek)
    Detail

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; ZDRÁHAL, J.; PEKAŘ, V.: xx; Laserově odolný reflexní optický element pro 1 030 nm. xx. (Funkční vzorek)
    Detail

  • 2022

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.: xx; Laserově odolný reflexní optický element pro 266 nm. xx. (Funkční vzorek)
    Detail

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.: xx; Laserově odolný antireflexní optický element pro 2 000 nm. xx. (Funkční vzorek)
    Detail

  • 2021

    BÁBOR, P.: xx; Manipulátor vzorků. xx. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/specimen-manipulator/. (Funkční vzorek)
    Detail

  • 2017

    AXMAN, T.; BÁBOR, P.: xx; Držák vzorků pro chlazení (20K) a žíhání vzorků (1000 K) v UHV podmínkách. xx. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2017-01/. (Funkční vzorek)
    Detail

    DOLEŽEL, P.; LOPOUR, F.; PLACHÝ, L.; SKLADANÝ, R.; ZIGO, J.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.: xx; Funkční prototyp aparatury UHV SEM/SPM. xx. (Prototyp)
    Detail

  • 2014

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T.: xx; Sestava VUT TOF-SARS pro detekci vodíku. xx. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2014-10/. (Funkční vzorek)
    Detail

  • 2009

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; ŠIKOLA, T.; PAVERA, M.; POLČÁK, J.: xx; IonProfile. xx. URL: http://physics.fme.vutbr.cz/ufi.php?Action=0&Id=1854. (Software)
    Detail

  • 2008

    POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.; ČECHAL, J.: xx; Počítačově řízený UHV manipulátor pro automatické měření spekter XPS. xx. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (Funkční vzorek)
    Detail

    POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.: xx; Termální desorpční spektroskopie (TDS). xx. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (Funkční vzorek)
    Detail

    PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; KOLÍBAL, M.; DUDA, R.; ŠIKOLA, T.: xx; SIMS TOF-LEIS hloubkový profilometr s nanometrovým rozlišením. xx. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (Funkční vzorek)
    Detail

  • 2007

    BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T.: xx; Ultravakuová aparatura pro přípravu nanostruktur metodou MBE. xx. (Funkční vzorek)
    Detail

*) Citace se generují jednou za 24 hodin.