Detail aplikovaného výsledku

Manipulátor vzorků

BÁBOR, P.

Originální název

Manipulátor vzorků

Anglický název

Specimen manipulator

Druh

Funkční vzorek

Abstrakt

Manipulátor vzorků pro laterálně přesnější sekvenční 2D analýzu kontaminovaných ploch větších než 2 cm2. Byl použit při měření velkých kontaminačních stop optických krystalů. Manipulátor je určen pro zařízení TOF SIMS na CEITECu a je UHV kompatibilní.

Abstrakt aglicky

Specimen manipulator for laterally more accurate 2D sequential analysis of contaminated areas larger than 2 cm2. It has been used in the measurement of large contamination traces of optical crystals. The manipulator is designed for the TOF SIMS facility at CEITEC and is UHV compatible.

Klíčová slova

SIMS , optical crystals, surface contamination, 2D analysis

Klíčová slova anglicky

SIMS , optical crystals, surface contamination, 2D analysis

Umístění

Purkyňova 123, Brno 61200, budova C, laboratore cistych prostor

Licenční poplatek

Výsledek je využíván vlastníkem

www