Aplikované výsledky

• 2023

  BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; ZDRÁHAL, J.: Laserově odolný reflexní optický element pro 2 000 nm. (Funkční vzorek)
  Detail

  BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; ZDRÁHAL, J.; PEKAŘ, V.: Laserově odolný reflexní optický element pro 1 030 nm. (Funkční vzorek)
  Detail

• 2022

  BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.: Laserově odolný reflexní optický element pro 266 nm. (Funkční vzorek)
  Detail

  BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.: Laserově odolný antireflexní optický element pro 2 000 nm. (Funkční vzorek)
  Detail

• 2020

  HUBÁLEK, J.; ŠIK, O.; MÜNZ, F.; VOBORNÝ, S.; GABLECH, I.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, Veveří, CZ: Optický detektor viditelného a blízkého infračerveného spektra záření. 33879, Užitný vzor. (2020)
  Detail

• 2019

  ŠIK, O.; VESELÝ, J.; HUBÁLEK, J.; HOLCMAN, V.: Univerzální optický systém s automatizovanou závěrkou pro záření v THz oblastech. (Funkční vzorek)
  Detail

• 2018

  ŠIK, O.; VOBORNÝ, S.; MÜNZ, F.; HUBÁLEK, J.: Epitaxní vrstva AlN nadeponovaná vysokoteplotní aparaturou MOCVD. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=142. (Funkční vzorek)
  Detail

  ŠIK, O.; VOBORNÝ, S.; MÜNZ, F.; HUBÁLEK, J.: Epitaxní vrstva GaN nadeponovaná vysokoteplotní aparaturou MOCVD. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=141. (Funkční vzorek)
  Detail

  ŠIK, O.; MÜNZ, F.; VOBORNÝ, S.; HUBÁLEK, J.: Epitaxní vrstva InN nadeponovaná nízkoteplotní aparaturou MOCVD. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=140. (Funkční vzorek)
  Detail

• 2015

  HOLCMAN, V.; MACKŮ, R.; TOFEL, P.; ŠIK, O.: Řízení procesu optimalizace a diagnostiky výroby karbonových dílů. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (Funkční vzorek)
  Detail

• 2014

  HOLCMAN, V.; MACKŮ, R.; ŠIK, O.; ŠKARVADA, P.: Systém řízení Autoklávu. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (Prototyp)
  Detail

  HOLCMAN, V.; MACKŮ, R.; ŠIK, O.; TOFEL, P.: PLC řízení procesu vytvrzování karbonových prvků. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (Prototyp)
  Detail

  TRČKA, T.; ŠIK, O.; BOGATYREVA, N.: Softwarová podpora pro dlohodobé vícekanálové formovaní dielektrik kondenzátorů. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/2014/softwarova-podpora-pro-formovani-dielektrik-kondenzatoru. (Software)
  Detail

• 2013

  TRČKA, T.; ŠIK, O.; GRMELA, L.; KNÁPEK, A.: Software pro analýzu transportu nosičů náboje u autoemisních katod. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/. (Software)
  Detail

  ŠKARVADA, P.; HOLCMAN, V.; VONDRA, M.; ŠIK, O.: Řídicí jednotka AFCrjMv5.3 pro AFC verze 5kW. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (Funkční vzorek)
  Detail

  HOLCMAN, V.; MACKŮ, R.; ŠKARVADA, P.: Systém řízení Autoklávu s PLC AMIT. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (Software)
  Detail

*) Citace se generují jednou za 24 hodin.