Multifunkční SPM sonda nové generace

Multifunctional SPM probe of the new generation

Funkční vzorek

Cílem vývoje uvedeného funkčního vzorku je multifunkční sonda SPM nové generace, která umožňuje měření fyzikálních vlastností materiálů a nanostruktur, ale navíc dovoluje tyto vlastnosti in-situ ovlivňovat přivedeným světlem, elektrickým polem a pracovním plynem.

The aim of the development of the functional sample is a multifunctional SPM probe of the new generation, which enables the measurement of physical properties of materials and nanostructures, but also allows these properties to be influenced in-situ by applied light, electric field and working gas.

SPM sonda, optické vlákno, lokální depozice, korelativní mikroskopie, spektroskopie

SPM probe, optical fiber, local deposition, correlative microscopy, spectoscopy

Multifunkční SPM sonda nové generace bude využívána na mikroskopech SPM LiteScope a SEM Vega ve sdílených čistých laboratořích Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně, Technická 2, budova A2.

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence