Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail projektu
Období řešení: 1.1.2011 — 31.12.2014
Zdroje financování
Technologická agentura ČR - Program aplikovaného výzkumu a experimentálního vývoje ALFA
O projektu
New methods for the cleaning of assembled substrates with higher effectivity and lower ecological and energy comsumption impact
Popis anglickyApplied research of new diagnostic method for cleaning process, new methods of agitation of cleaning mediaand new mwthods of separating organic pollution from rinse water.
Označení
TA01011754
Originální jazyk
čeština
Řešitelé
Szendiuch Ivan, doc. Ing., CSc. - hlavní řešitelBuršík Martin, Ing., Ph.D. - spoluřešitelJankovský Jaroslav, Ing. - spoluřešitelŘezníček Michal, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Útvary
Ústav mikroelektroniky- odpovědné pracoviště (1.1.2011 - nezadáno)Ústav mikroelektroniky- příjemce (1.1.2011 - nezadáno)
Výsledky
BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.: Vyhodnocení zbytkové kontaminace substrátů. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/bursik-fv-vyhodnoceni-zbytkove-kontaminace-substratu.pdf. (Funkční vzorek)Detail
BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Úprava povrchové vrstvy pro lepení čipů na skleněné testovací substráty. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/poloprovozy/bursik-pp-uprava-povrchove-vrstvy-pro-lepen-cipu-na-sklenene-testovaci-substraty.pdf. (Poloprovoz)Detail
BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Vodivostní čidlo. (Funkční vzorek)Detail
ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Držák QCM krystalu mikrováhy. (Funkční vzorek)Detail
ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Úprava povrchové vrstvy pro lepení čipů na skleněné testovací substráty. (Prototyp)Detail
ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Značení skleněných a keramických substrátů určených pro náročné aplikace. (Ověřená technologie)Detail
ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Zařízení k nanášení mezivrstvy na skleněné testovací substráty určené k lepení čipů. (Funkční vzorek)Detail
BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Značení skleněných a keramických substrátů určených pro náročné aplikace. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/poloprovozy/bursik-pp-znaceni-sklenenych-a-keramickych-substratu-urcenych-pro-narocne-aplikace.pdf. (Poloprovoz)Detail
BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.: Přípravek pro optické vyhodnocení mycí kapaliny. (Funkční vzorek)Detail
BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; MUSIL, V.: Plazmový detektor bublin v ovrstvení. (Funkční vzorek)Detail
BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M. Optimizing of PCBA cleaning process through process calibration tools. In EMPC 2013. 2013. Grenoble. France: IEEE, 2013. p. 1-3. ISBN: 978-2-9527467-1-7.Detail
BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; SZENDIUCH, I.; SITKO, V. Innovative procedures for the evaluation method of the efficiency in the cleaning process. In Electronics Technology (ISSE), 2015 38th International Spring Seminar. Eger, Hungary: IEEE, 2015. p. 288-291. ISBN: 978-963-313-177-0.Detail
BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; SZENDIUCH, I. Analytic method for monitoring of cleaning process efficiency. In IEEE CONFERENCE PUBLICATIONS. Dresden, Německo: IEEE, 2014. s. 341-344. ISBN: 978-3-934142-49-7.Detail
ŘEZNÍČEK, M.; BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké Učení Technické V Brně MEAS CZ, s.r.o.: Způsob vytváření mezivrstvy na skleněných testovacích substrátech určené k lepení čipů a nanášecí zařízení pro provádění tohoto způsobu. EP2746235, Patent. (2017)Detail
BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně: Zařízení k nanášení mezivrstvy na skleněné testovací substráty určené k lepení čipů. 25052, Užitný vzor. (2013)Detail
ŘEZNÍČEK, M.; BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Způsob označování skleněných nebo keramických testovacích desek určených pro náročné aplikace a dispenzer k jeho provádění. 304754, Patent. (2014)Detail
BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; Vysoké učení technické v Brně: Měřicí zařízení pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečistěných tavidly. 25097, Užitný vzor. (2013)Detail
BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Měřicí metoda pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečištěných tavidly. 305605, Patent. (2015)Detail
BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Dispenzer k označování skleněných nebo keramických testovacích desek určených pro náročné aplikace. 25177, Užitný vzor. (2013)Detail
BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; VUT v Brně MEAS CZ, s.r.o.: Způsob vytváření mezivrstvy na skleněných testovacích substrátech, určené k lepení čipů, a nanášecí zařízení pro provádění tohoto způsobu. 304596, Patent. (2014)Detail
Odpovědnost: Szendiuch Ivan, doc. Ing., CSc.