Project detail

New methods of cleaning electronic assemblies with enhanced effectivity, lower impact to the environment and lower energy needs.

Duration: 1.1.2011 — 31.12.2014

Funding resources

Technologická agentura ČR - Program aplikovaného výzkumu a experimentálního vývoje ALFA

On the project

New methods for the cleaning of assembled substrates with higher effectivity and lower ecological and energy comsumption impact

Description in English
Applied research of new diagnostic method for cleaning process, new methods of agitation of cleaning mediaand new mwthods of separating organic pollution from rinse water.

Mark

TA01011754

Default language

Czech

People responsible

Szendiuch Ivan, doc. Ing., CSc. - principal person responsible
Buršík Martin, Ing., Ph.D. - fellow researcher
Jankovský Jaroslav, Ing. - fellow researcher
Řezníček Michal, Ing., Ph.D. - fellow researcher

Units

Department of Microelectronics
- responsible department (1.1.2011 - not assigned)
Department of Microelectronics
- beneficiary (1.1.2011 - not assigned)

Results

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.: Vyhodnocení zbytkové kontaminace substrátů. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/bursik-fv-vyhodnoceni-zbytkove-kontaminace-substratu.pdf. (Funkční vzorek)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Úprava povrchové vrstvy pro lepení čipů na skleněné testovací substráty. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/poloprovozy/bursik-pp-uprava-povrchove-vrstvy-pro-lepen-cipu-na-sklenene-testovaci-substraty.pdf. (Poloprovoz)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Vodivostní čidlo. (Funkční vzorek)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Držák QCM krystalu mikrováhy. (Funkční vzorek)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Úprava povrchové vrstvy pro lepení čipů na skleněné testovací substráty. (Prototyp)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Značení skleněných a keramických substrátů určených pro náročné aplikace. (Ověřená technologie)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Zařízení k nanášení mezivrstvy na skleněné testovací substráty určené k lepení čipů. (Funkční vzorek)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Značení skleněných a keramických substrátů určených pro náročné aplikace. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/poloprovozy/bursik-pp-znaceni-sklenenych-a-keramickych-substratu-urcenych-pro-narocne-aplikace.pdf. (Poloprovoz)
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.: Přípravek pro optické vyhodnocení mycí kapaliny. (Funkční vzorek)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; MUSIL, V.: Plazmový detektor bublin v ovrstvení. (Funkční vzorek)
Detail

BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M. Optimizing of PCBA cleaning process through process calibration tools. In EMPC 2013. 2013. Grenoble. France: IEEE, 2013. p. 1-3. ISBN: 978-2-9527467-1-7.
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; SZENDIUCH, I.; SITKO, V. Innovative procedures for the evaluation method of the efficiency in the cleaning process. In Electronics Technology (ISSE), 2015 38th International Spring Seminar. Eger, Hungary: IEEE, 2015. p. 288-291. ISBN: 978-963-313-177-0.
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; SZENDIUCH, I. Analytic method for monitoring of cleaning process efficiency. In IEEE CONFERENCE PUBLICATIONS. Dresden, Německo: IEEE, 2014. s. 341-344. ISBN: 978-3-934142-49-7.
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké Učení Technické V Brně MEAS CZ, s.r.o.: Způsob vytváření mezivrstvy na skleněných testovacích substrátech určené k lepení čipů a nanášecí zařízení pro provádění tohoto způsobu. EP2746235, Patent. (2017)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně: Zařízení k nanášení mezivrstvy na skleněné testovací substráty určené k lepení čipů. 25052, Užitný vzor. (2013)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Způsob označování skleněných nebo keramických testovacích desek určených pro náročné aplikace a dispenzer k jeho provádění. 304754, Patent. (2014)
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; Vysoké učení technické v Brně: Měřicí zařízení pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečistěných tavidly. 25097, Užitný vzor. (2013)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Měřicí metoda pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečištěných tavidly. 305605, Patent. (2015)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Dispenzer k označování skleněných nebo keramických testovacích desek určených pro náročné aplikace. 25177, Užitný vzor. (2013)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; VUT v Brně MEAS CZ, s.r.o.: Způsob vytváření mezivrstvy na skleněných testovacích substrátech, určené k lepení čipů, a nanášecí zařízení pro provádění tohoto způsobu. 304596, Patent. (2014)
Detail