Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Mgr.
Ph.D.
CEITEC VUT, RG-1-05 – vedoucí
petr.klapetek@ceitec.vutbr.cz
Odeslat VUT zprávu
2023
NEČAS, D.; KLAPETEK, P.: xx; High-speed SPM data processing for Gwyddion. xx. URL: http://gwyddion.net/. (Software)Detail
2022
PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.; ŠKODA, D.; OHLÍDAL, I.; VOHÁNKA, J.; FRANTA, D.; FRANTA, P.; DVOŘÁK, J.; OHLÍDAL, M.; ŠULC, V.; KLAPETEK, P.; HAVLÍČEK, M.: xx; Soubor dělicích vrstev ve specifikaci s parametry prvního děliče Rp = 50 % ± 3 % @248 nm; druhého děliče Rp = <0,4; 0,75> a Rs < 1 % na vlnové délce 248 nm a zvýšenou propustností v oblasti od 630 nm do 670 nm. xx. (Funkční vzorek)Detail
2021
KLAPETEK, P.; VALTR, M.; NEČAS, D.; LÉDL, V.; ULEHLA, L.; WITTEK, R.: xx; Technique for fusion of roughness data sets. xx. (Ověřená technologie)Detail
PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.; ŠKODA, D.; OHLÍDAL, I.; VOHÁNKA, J.; FRANTA, D.; FRANTA, P.; DVOŘÁK, J.; OHLÍDAL, M.; ŠULC, V.; KLAPETEK, P.; HAVLÍČEK, M.: xx; Vysoceodrazná vrstva na substrátu ve specifikaci R >= 98,5 % @ 248 nm a R >= 98 % @ 213 nm pro úhel dopadu 45. xx. (Funkční vzorek)Detail
KLAPETEK, P.; VALTR, M.; ŘEŘUCHA, Š.; HOLÁ, M.; ČÍP, O.: xx; Technique for combination of contact and non-contact data on optical elements. xx. (Ověřená technologie)Detail
2020
PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.; ŠKODA, D.; OHLÍDAL, I.; VOHÁNKA, J.; FRANTA, D.; FRANTA, P.; OHLÍDAL, M.; ŠULC, V.; KLAPETEK, P.; HAVLÍČEK, M.: xx; Antireflexní vrstva na substrátu ve specifikaci T>=99,8 %@ 248 nm a T>=98,5 % @ 213 nm . xx. (Funkční vzorek)Detail
2016
VALTR, M.; KLAPETEK, P.: xx; Polohovací systém pro rastrovací mikroskopy vyrobený technikou 3D tisku. xx. URL: http://www.nanometrologie.cz/funkcni_vzorek/funkcni_vzorek_plasticstage.pdf. (Funkční vzorek)Detail
*) Citace se generují jednou za 24 hodin.