Detail předmětu

Analytical Electron Microscopy in Materials Chemistry

CEITEC VUT-C8080Ak. rok: 2025/2026

Interakce elektronů s pevnou látkou. Typy elektronových mikroskopů. TEM a SEM. Pracovní módy elektronových mikroskopů. Příprava vzorků pro EM. Teorie elektronové difrakce (rozptyl elektronů, elektronová difrakce krystalických a amorfních objektů, bodový a kruhový difraktogram, Braggova rovnice, Ewaldova konstrukce). Kinematická a dynamická teorie kontrastu. Kikuchiho linie. Praktické úlohy TEM. Vysokorozlišovací elektronová mikroskopie (HREM). Simulace obrazu v HREM. Pokročilejší metody elektronové difrakce: mikrodifrakce, difrakce v konvergentním svazku (CBED). Rastrovací elektronová mikroskopie (SEM). Analytická elektronová mikroskopie. Praktické ukázky – TEM, SEM+EDX+WDX+EBSD. 

Jazyk výuky

čeština

Vstupní znalosti

Fyzika, matematika a chemie na VŠ úrovni magisterského studia 

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

zkouška 

Učební cíle

Studenti se seznámí s principy elektronové mikroskopie, jak transmisní, tak řádkovací. Budou probírány základy teorie zobrazení a difrakce v elektronovém mikroskopu. Pozornost bude věnována také analytickým metodám charakterizace materiálů objemových (slitiny, chemické sloučeniny) a práškových (nanočástice připravené různými chemickými metodami). Přednášky budou doplněny několika praktickými cvičeními u elektronových mikroskopů na pracovišti lektora. 

Základní literatura

KARLÍK, Miroslav. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Vyd. 1. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2011, 321 s. ISBN 9788001047293. info recommended literature (EN)
GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003, xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9. info Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Edited by Ludwig Reimer. 3. ed. Berlin: Springer, 1993, 545 s. ISBN 3540568492. info (EN)