Ing.

Pavel Klok

CEITEC VUT, RG-1-04 – vědecký pracovník

Pavel.Klok@ceitec.vutbr.cz

Odeslat VUT zprávu

Ing. Pavel Klok

Publikační výsledky

  • 2025

    Musálek, T.; Liska, P.; Morsa, A.; Arregi, JA.; Klok, P.; Kratochvil, M.; Sergeev, D.; Müller, M.; Sikola, T.; Kolibal, M. Single- vs dual-source vapor deposition of inorganic halide perovskites: A case study of CsPbBr3. APL Materials, 2025, vol. 13, no. 3, 10 p. ISSN: 2166-532X.
    Detail

    BAJO, V.; KLOK, P.; LIŠKA, P.; KOLOŠOVÁ, J.; MOTÚZ, R.; JURAČKA, J.; GAVRANOVIĆ, S.; ZMEŠKAL, O.; KRÁL, J.; STEJSKAL, P.; JIRUŠE, J.; ŠIKOLA, T.; HORÁK, M. 4D-STEM in an FIB-SEM: A Proper Tool to Characterize Perovskite Single-Photon Emitters and Solar Cells. Journal of Physical Chemistry C, 2025, vol. 129, no. 7, p. 3905-3912. ISSN: 1932-7455.
    Detail

  • 2022

    DVOŘÁK, P.; KLOK, P.; KVAPIL, M.; HRTOŇ, M.; BOUCHAL, P.; KRPENSKÝ, J.; KŘÁPEK, V.; ŠIKOLA, T. Two-dimensional quantitative near-field phase imaging using square and hexagonal interference devices. Nanophotonics, 2022, vol. 11, no. 19, p. 1-12. ISSN: 2192-8614.
    Detail

  • KLOK, P.; VIEWEGH, P.; LIŠKA, P.; KRATOCHVÍL, M.; GAVRANOVIĆ, S.; ULČ, F.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Nanoscale Optoelectronic Insights into CsPbBr3: Advanced Characterization of Charge Carrier Dynamics. Microscopy 2024. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, p. 63-64. ISBN: 978-80-909216-0-3.
    Detail

*) Citace se generují jednou za 24 hodin.