Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
prof. RNDr.
Ph.D.
FSI, ÚFI OFPN – profesor
+420 54114 2848spousta@fme.vutbr.cz
Odeslat VUT zprávu
2022
PIASTEK, J.; MACH, J.; BÁRDY, S.; ÉDES, Z.; BARTOŠÍK, M.; MANIŠ, J.; ČALKOVSKÝ, V.; KONEČNÝ, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Correlative Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy: The Role of Single Ga Islands in Surface-Enhanced Raman Spectroscopy of Graphene. Journal of Physical Chemistry C (web), 2022, roč. 126, č. 9, s. 4508-4514. ISSN: 1932-7455.Detail | WWW
2018
BŘÍNEK, L.; KVAPIL, M.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Plasmon Resonances of Mid-IR Antennas on Absorbing Substrate: Optimization of Localized Plasmon-Enhanced Absorption upon Strong Coupling Effect. ACS Photonics, 2018, roč. 5, č. 11, s. 4378-4385. ISSN: 2330-4022.Detail | WWW
2017
KALOUSEK, R.; SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T.; SHEN, Z.; SALAMON, D.; MACA, K. Rapid heating of zirconia nanoparticle- powder compacts by infrared radiation heat transfer. Journal of the European Ceramic Society, 2017, roč. 37, č. 3, s. 1067-1072. ISSN: 0955-2219.Detail
DVOŘÁK, P.; ÉDES, Z.; KVAPIL, M.; ŠAMOŘIL, T.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; DUB, P.; SPOUSTA, J.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Imaging of near-field interference patterns by a-SNOM – influence of illumination wavelength and polarization state. OPTICS EXPRESS, 2017, roč. 25, č. 14, s. 16560-16573. ISSN: 1094-4087.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
2016
DVOŘÁK, P.; KOLÍBAL, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Fotoluminiscence h- BN detekována pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli. Jemná mechanika a optika, 2016, roč. 61, č. 6, s. 149-150. ISSN: 0447-6441.Detail
2015
NEUMAN, J.; NOVÁČEK, Z.; PAVERA, M.; ZLÁMAL, J.; KALOUSEK, R.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. Experimental optimization of power-function-shaped drive pulse for stick-slip piezo actuators. PRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY, 2015, roč. 42, č. 1, s. 187-194. ISSN: 0141-6359.Detail
2014
DVOŘÁK, P.; LIGMAJER, F.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; KLEMENT, R.; BABOCKÝ, J.; TUČEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Využití reflexní optické spektroskopie v plazmonice. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 162-164. ISSN: 0447- 6441.Detail
2013
UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; HLADÍK, L.; SPOUSTA, J.; IM, M.; FISCHER, P.; EIBAGI, N.; KAN, J.; FULLERTON, E.; ŠIKOLA, T. Dynamic switching of the spin circulation in tapered magnetic nanodisks. Nature Nanotechnology (print), 2013, roč. 8, č. 5, s. 341-346. ISSN: 1748- 3387.Detail
2012
SPOUSTA, J.; PRŮŠA, S.; TROJÁNEK, A.; DUB, P. Kvalitní učebnice fyziky - důležitá opora výuky. Československý časopis pro fyziku, 2012, roč. 62, č. 5- 6, s. 421-425. ISSN: 0009- 0700.Detail
2011
MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. An ultra-low energy (30–200 eV) ion-atomic beam source for ion-beam- assisted deposition in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments, 2011, roč. 82, č. 8, s. 083302- 1 (083302-7 s.)ISSN: 0034- 6748.Detail
2010
URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, roč. 21, č. 14, s. 145304- 1 (145304-7 s.)ISSN: 0957-4484.Detail
LYSÁČEK, D.; VÁLEK, L.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T.; ŠPETÍK, R. Thermal stability of undoped polycrystalline silicon layers on antimony and boron- doped substrates. Thin Solid Films, 2010, roč. 518, č. 14, s. 4052-4057. ISSN: 0040- 6090.Detail
2009
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, roč. 79, č. 19, s. 195406-195412. ISSN: 1098- 0121.Detail
SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; URBÁNEK, M.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev (aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti). Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 225-228. ISSN: 0447- 6441.Detail
2008
SPOUSTA, J. Malé velké věci aneb příprava a analýza nanostruktur v laboratořích Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Československý časopis pro fyziku, 2008, roč. 58, č. 2, s. 87-90. ISSN: 0009- 0700.Detail
TOMANEC, O.; HRNČÍŘ, T.; LOVICAR, L.; ŠUSTR, L.; BŘÍNEK, L.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Studium vlastností mikro- a nanostruktur v oblasti plazmoniky na Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447- 6441.Detail
PLŠEK, R.; UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447- 6441.Detail
2007
URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; BĚHOUNEK, T.; ŠIKOLA, T. Imaging reflectometery in situ. Applied Optics, 2007, roč. 46, č. 25, s. 6309-6313. ISSN: 0003- 6935.Detail
BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. The influence of humidity on the kinetics of local anodic oxidation. Journal of Physics: Conference Series, 2007, roč. 61, č. 0, s. 75-79. ISSN: 1742- 6588.Detail
KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; MARKIN, S.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2007, roč. 265, č. 2, s. 569-575. ISSN: 0168- 583X.Detail
ČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. Surface Science, 2007, roč. 601, č. 9, s. 2047-2053. ISSN: 0039- 6028.Detail
2006
SPOUSTA, J.; URBÁNEK, M.; CHMELÍK, R.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; ŠIKOLA, T.; NAVRÁTIL, K. Vývoj zařízení k in-situ stanovení rozložení tlouštěk vrstev pomocí UV- VIS zobrazovací reflektometrie. 2006, roč. 51, č. 9, s. 239-245. ISSN: 0447- 6411.Detail
2005
BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Seville: 2005.Detail
SPOUSTA, J.; URBÁNEK, M.; NEUGEBAUER, P.; ŠIKOLA, T.; NAVRÁTIL, K. UV- VIS Areal Reflectometry. 1. Vienna: 2005. s. 111-111. Detail
CHMELÍK, R.; LOVICAR, L.; KOLMAN, P.; SPOUSTA, J.; FORET, Z. Polychromatic coherent transfer function for a low- coherence interference microscope with achromatic fringes. In Focus on Microscopy 2005 - Jena, Germany. March 20-23, 2005. Appendix to the abstract book. Jena, Germany: 2005. s. 120-120. Detail
KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; TOMANEC, O.; POTOČEK, M.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. Application of ToF LEIS for Monitoring the growth and thermal treatment of Ga ultrathin films. 1. Vienna: 2005. s. 191-191. Detail
BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Manchester: 2005. s. 178-178. Detail
ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A Study of Gallium Growth on Si(111) 7x7 by SRPES. 1. Vienna: 2005. s. 259-259. Detail
VOBORNÝ, S.; MACH, J.; POTOČEK, M.; KOSTELNÍK, P.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of GaN Ultrathin Films grown by Direct Ion Beam Deposition. 1. Vienna: 2005. s. 117-117. Detail
2004
URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; SZOTKOWSKI, R.; CHMELÍK, R.; BUČEK, M.; ŠIKOLA, T. Instrument for thin film diagnostics by UV spectroscopic reflectometry. Surface and Interface Analysis, 2004, roč. 36, č. 8, s. 1102 ( s.)ISSN: 0142- 2421.Detail
VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra- thin films. Thin Solid Films, 2004, roč. 459, č. 1- 2, s. 17 ( s.)ISSN: 0040- 6090.Detail
ČECHAL, J.; TICHOPÁDEK, P.; NEBOJSA, A.; BONAVENTUROVÁ, O.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. Surface and Interface Analysis, 2004, roč. 38, č. 8, s. 1218 ( s.)ISSN: 0142- 2421.Detail
VOBORNÝ, S.; MACH, J.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; TOMANEC, O.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Application of Complex UHV Apparaturus in a Study of Low-tepmerature Gallium- nitride Ultrathin Film Growth. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9, s. 265 ( s.)ISSN: 0447- 6441.Detail
2003
URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, K., BUČEK, M., NEUGEBAUER, P., ŠIKOLA, T. Systém pro měření homogenity optických vlastností tenkých vrstev. 2003, roč. 48, č. 6, s. 163 ( s.)ISSN: 0447- 6411.Detail
VAIS, J., ŽENÍŠEK, J., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J., DITTRICHOVÁ, L., SPOUSTA, J., BOCHNÍČEK, Z., ŠIKOLA, T. Interface and depth profile analysis of magnetic ultrathin films. In ECASIA 10 Book of Abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. s. 226 ( s.)Detail
VAIS, J.; ŽENÍŠEK, J.; MRÁZ, M.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; RAFAJA, D.; ŠIKOLA, T. Deposition of Cobalt Nitride Films by IBAD. In EVC 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 116 ( s.)Detail
URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, K., FIEDOR, M., CHMELÍK, R., BUČEK, M., ŠIKOLA, T. Instrument for Thin Films Diagnostics by UV Spectroscopic Reflectometry. In ECASIA ' 03 Book of abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. s. 284 ( s.)Detail
VOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T. Deposition and in situ characterization of ultra- thin films. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 45 ( s.)Detail
ŠKODA, D., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., BURIAN, D., SPOUSTA, J., MATĚJKA, F., ŠIKOLA, T. Aplikace AFM v oblasti přípravy a studia nanostruktur. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 105 ( s.)ISSN: 0009- 0700.Detail
2002
SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., JIRUŠE, J., CHMELÍK, R., NEBOJSA, A. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1, s. 664 ( s.)ISSN: 0142- 2421.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., ŠKODA, D., MATĚJKA, F., KALOUSEK, R. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/ Nanostructures. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1, s. 352 ( s.)ISSN: 0142- 2421.Detail
2001
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. s. 486 ( s.)ISBN: 80-214-1892- 3.Detail
DUB, P., SVĚTLÍK, J., ŠTRUNC, M., KOMRSKA, J., ZDRAŽIL, V., LIŠKA, M., DĚDEK, L., TOMÁNEK, P., LENCOVÁ, B., HORÁK, M., ŠIKOLA, T., BARTLOVÁ, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, V., HOLÝ, V., MITVALSKÝ, V., MUSILOVÁ, J., HOUFEK, K., ECKERTOVÁ, L., HAVRÁNEK, A., OBDRŽÁLEK, J., NOVOTNÝ, J., LENC, M., CHVOSTA, P., BOCHNÍČEK, Z. Fyzika. In Fyzika. Překlady vysokoškolských učebnic. Brno: Vutium Brno, 2001. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-1869- 9.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/ Nanostructures. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. s. 320 ( s.)Detail
SPOUSTA, J., URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. s. 295 ( s.)Detail
2000
URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., CHMELÍK, R., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Zařízení k in situ sledování plošné homogenity růstu tenkých neabsorbujících vrstev. In Sborník abstraktů přednášek konference Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkum a aplikacích. Brno: MU Brno, 2000. s. 17 ( s.)Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., BÁBOR, P., DUARTE, J., MATĚJKA, F. Etching of Microstructures and Modification of Solid Surfaces by Low Energy Ion Beams. In MicroMat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. s. 919 ( s.)Detail
URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films. In Micromat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. s. 604 ( s.)Detail
ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., TICHOPÁDEK, P., KRÁL, J., RAFAJA, D., RANNO, L. Deposition of Thin Films/ Multilayers by IBAD. In procedings of conference Metal 2000. Ostrava: VŠB Ostrava, 2000. s. 81 ( s.)Detail
*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.