Detail projektu

Nanoelectronic COupled Problems Solutions (nanoCOPS) - evropský projekt FP7 STREP č. 619166

Období řešení: 1.1.2014 — 31.12.2016

Zdroje financování

Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - Podpora projektů sedmého rámcového programu Evropského společenství pro výzkum, technologický rozvoj a demonstrace (2007 až 2013) podle zákona č. 171/2007 Sb.

O projektu

Designs in nanoelectronics often lead to large-size simulation problems and include strong feedback couplings. Industry demands the provisions of variability to guarantee quality and yield. It also requires the incorporation of higher abstraction levels to allow for system simulation in order to shorten the design cycles, while at the same time preserving accuracy. The nanoCOPS project addresses the simulation of two technically and commercially important problem classes identified by our industrial partners.

Klíčová slova
Co-simulation, Model Order Reduction (MOR), Monolithic time integration, Multirate time integration, Uncertainty Quantification (UQ)

Označení

FP7 nanoCOPS

Originální jazyk

angličtina

Řešitelé

Kratochvíl Tomáš, prof. Ing., Ph.D. - hlavní řešitel
Dřínovský Jiří, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Götthans Tomáš, doc. Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Petržela Jiří, doc. Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Šotner Roman, prof. Ing., Ph.D. - spoluřešitel

Útvary

Ústav radioelektroniky
- odpovědné pracoviště (10.11.2016 - nezadáno)
oddělení-REL-SIX
- spolupříjemce (1.1.2014 - 31.12.2016)
Ústav radioelektroniky
- příjemce (1.1.2014 - 31.12.2016)

Výsledky

GÖTTHANS, T.: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE). Drážďany (14.03.2016)
Detail

ŠOTNER, R.; GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; PETRŽELA, J.; KRATOCHVÍL, T.: Tester pro dynamické zkoušky spolehlivosti výkonových MOS buněk. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2015/Sotner_powercell_tester_CZ.pdf. (Funkční vzorek)
Detail

GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; PETRŽELA, J.; ŠOTNER, R.; KRATOCHVÍL, T.: Program pro automatizovanou pro lokalizaci prasklin zatížených tranzistorových buněk. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/software/2015/Gotthans_NANOCOPS_SW_CZ.pdf. (Software)
Detail

ŠOTNER, R.; PETRŽELA, J.; GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; KRATOCHVÍL, T.: Šestikanálový tester bondovacích vodičů. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2014/Sotner_bondwire_tester_CZ.pdf. (Funkční vzorek)
Detail

KRATOCHVÍL, T.; PETRŽELA, J.; ŠOTNER, R.; DŘÍNOVSKÝ, J.; GÖTTHANS, T.; WIEERS, A.; GILLON, R.; REYNIER, P.; POUPIN, Y. Measurements for RF Amplifiers, Bond Wire Fusing and MOS Power Cells. In Nanoelectronic Coupled Problems Solutions. Springer, 2019. p. 487-515. ISBN: 978-3-030-30725-7.
Detail

Odpovědnost: Kratochvíl Tomáš, prof. Ing., Ph.D.