The difficulty of the assignment of this diploma thesis is above standard for two main reasons. First, the goal is to propose and implement new measurement tools for electron microscopy. This is a development/research task going beyond standard engineering. Second, the measurement scale and desired accuracy is in tens/units of nanometers, where it is not trivial to obtain reference and it is difficult to acquire test data. Despite the initial difficulties and uncertainties in the measuring reference, the student came up with a solid work which I am satisfied with.

During the solution, the student was active, he often attended personal consultations with the supervisor and he regularly reported the progress in the weekly reports. He met the agreed deadlines and he was always well prepared for the consultation.

The work has been presented at the student conference EXCEL@FIT, where it received the committee award as well as the industry award.

Stupeň hodnocení: obtížnější zadání

Zadání hodnotím jako obtížnější. Autor práce se musel seznámit s elektronovými mikroskopy, metodami pro změření tloušťky vrstev odprašeného materiálu ze vzorku elektronového mikroskopu a navrhnout metody nové. Dále bylo nutné navrhnout způsob sběru dat pro vyhodnocení a porovnání úspěšnosti jednotlivých metod. 

Stupeň hodnocení: je v obvyklém rozmezí

Práce je psaná jazykově čistou a srozumitelnou angličtinou. Kromě rozmazaných grafů, které by bylo vhodné převést do vektorové podoby, jsem v práci nenalezl žádná vážnější provinění proti formální stránce.

Výsledkem práce je systém umožňující změření tloušťky vrstev odprašeného materiálu ze vzorků elektronového mikroskopu, jak existující metodou Chevrons, tak nově navrženými metodami Y-Shift SEM a Top-Down FIB. Systém také umožňuje vyhodnocení přesnosti měření. Nevýhodou aktuálního řešení je jeho složitá instalace a spuštění.