Detail předmětu

Moderní mikroelektronické prvky

FEKT-MPC-MPRAk. rok: 2025/2026

Předmět se zaměřuje na detailní analýzu struktury, fyzikálních principů a elektrického chování polovodičových součástek v kontextu pokročilých aplikací mikroelektroniky a výkonové elektroniky. Obsah vychází z kvantově-mechanického popisu pevných látek a elektronových vlastností polovodičových materiálů, přičemž navazuje na modelování a návrh reálných součástek v elektronických systémech.

Kurz systematicky pokrývá:

  • PN přechody a diody (včetně výkonových) – jejich nelineární charakteristiky, návrhové parametry a aplikační rozhraní,

  • modelování diod ve SPICE s ohledem na technologické a materiálové parametry,

  • bipolární a unipolární tranzistory (BJT, JFET, MOSFET, IGBT) – jejich princip činnosti, provozní režimy, přechodové jevy a návrhové charakteristiky,

  • řízené spínací struktury (tyristory, GTO) pro aplikace ve výkonových měničích,

  • moderní polovodičové struktury na bázi širokopásmových materiálů (SiC, GaN) – jejich výhody pro vysokonapěťové, vysokofrekvenční a vysokoúčinné aplikace.

Důraz je kladen na propojení fyzikálních modelů se simulačními nástroji (SPICE) a inženýrské interpretaci jejich výstupů pro návrh a optimalizaci elektronických součástek a systémů.

 

 

 

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

6

Vstupní znalosti

Jsou požadovány základní znalosti fyziky, matematiky a elektrických obvodů. 

Práce v laboratoři je podmíněna platnou kvalifikací „osoby poučené“, kterou musí studenti získat před zahájením výuky. Informace k této kvalifikaci jsou uvedeny ve Směrnici děkana Seznámení studentů s bezpečnostními předpisy.

 

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

Podmínky zápočtu: absolvování měřených úloh a  odevzdat vypracované protokoly v požadované kvalitě.

Podmínky zkoušky: prokázání znalostí z předmětu v písemné a ústní části zkoušky. 

Bodové hodnocení (max. 100 bodů): max. 30 bodů za práci během semestru; max. 70 bodů za zkoušku. Závěrečná zkouška se skládá ze dvou částí (písemné a ústní) a je celkově hodnocena 70 body. 

 

Učební cíle

Prohloubit znalosti studentů v oblasti fyzikálních principů fungování polovodičových součástek, se zaměřením na kvantově-mechanické a materiálové aspekty. Objasnit vztahy mezi strukturou polovodičových materiálů a elektrickým chováním součástek v různých provozních režimech. Seznámit studenty s konstrukcí, vlastnostmi a aplikačními oblastmi klíčových polovodičových prvků, včetně PN přechodů, diod, tranzistorů (BJT, JFET, MOSFET, IGBT) a řízených výkonových struktur (tyristory, GTO). Rozvíjet schopnost studentů analyzovat a modelovat polovodičové součástky pomocí simulačních nástrojů (zejména SPICE), s ohledem na vliv technologických parametrů. Představit pokročilé polovodičové struktury založené na širokopásmových materiálech (SiC, GaN) a jejich výhody pro vysokonapěťové a vysokofrekvenční aplikace. Podpořit inženýrské myšlení při návrhu a optimalizaci elektronických systémů, prostřednictvím propojení fyzikálních modelů s technickými aplikacemi.

Studijní opory

 

Základní literatura

BOUSEK, J. a kol., Electronic Devices, VUT. (CS)
HORÁK M.: Mikroelektronické prvky a struktury, SKRIPTUM VUT 2010 (CS)
RAZAVI, B. Fundamentals of Microelectronics (EN)

Elearning

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program MPC-NCP magisterský navazující 1 ročník, zimní semestr, povinný
  • Program MPC-MEL magisterský navazující 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Osnova

Úvod do předmětu MPR zahrnující opakování; Přehled fyziky polovodičů a význam fyziky polovodičů v inženýrské praxi; Vývoj modelu atomu a základy kvantové teorie; Struktura a vlastnosti polovodičů z hlediska kvantové fyziky a elektroniky; PN přechod a polovodičové diody – principy, chování a technické aplikace; Výkonové polovodičové diody – principy, parametry a aplikační možnosti; Modelování diod v SPICE – vliv parametrů a optimalizace modelu; Bipolární tranzistor (BJT) – princip, charakteristiky a aplikační souvislosti; FET – polem řízené tranzistory a JFETy; MOSFET – Metal-Oxide-Semiconductor FET ; IGBT – Insulated Gate Bipolar Transistor; Tyristory a GTO – Řízené polovodičové spínače; Nové polovodičové součástky – materiály SiC a GaN.

Cvičení odborného základu

13 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Osnova

1 LC MPC MPR 2024 diody - měření VA charakteristik diod; 2 NC MPC MPR 2024 diody - výpočty parametrů diody z VA charakteristik; 3 LC MPC MPR 2024 diody - modelovaní diody; 4 LC MPC MPR 2024 diody - modelovaní teplotního vlivu; 5 LC MPC MPR 2024 tranzistory - měření tranzistoru; 6 LC MPC MPR 2024 tranzistory - modelování tranzistoru.

Cvičení na počítači

26 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Osnova

1 LC MPC MPR 2024 diody - měření VA charakteristik diod; 2 NC MPC MPR 2024 diody - výpočty parametrů diody z VA charakteristik; 3 LC MPC MPR 2024 diody - modelovaní diody; 4 LC MPC MPR 2024 diody - modelovaní teplotního vlivu; 5 LC MPC MPR 2024 tranzistory - měření tranzistoru; 6 LC MPC MPR 2024 tranzistory - modelování tranzistoru.

Elearning