Detail předmětu

Mikroskopie a spektroskopie

FSI-TMKAk. rok: 2012/2013

Klasická a moderní světelná mikroskopie, konfokální mikroskopie, fluorescenční mikroskopie, ramanovská mikrospektroskopie, interferenční a holografická mikroskopie, počítače a kamery v mikroskopii, ramanovská spektroskopie, optická spektroskopie, XPS, SIMS, LEIS.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

5

Garant předmětu

prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Ústav fyzikálního inženýrství (ÚFI)

Výsledky učení předmětu

Studenti získají vědomosti o historii a moderních technikách a přístupech v oboru světelné mikroskopie a spektroskopie a částicové spektroskopie a základní praktické dovednosti při práci s příslušnými přístroji. Mimo jiné jim to usnadní orientaci při výběru tématu závěrečné práce (diplomové či doktorské).

Prerekvizity

Základní kurz fyziky, kvantová fyzika, fyzika pevných látek, povrchy a tenké vrstvy. Geometrická a vlnová optika.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Metody vyučování závisejí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

Způsob a kritéria hodnocení

Student bude hodnocen na základě jeho výsledku v písemné a ústní části zkouškou.

Učební cíle

Cílem předmětu je seznámit studenty se základními principy a technikami světelné mikroskopie a spektroskopie a částicové spektroskopie a umožnit jim praktické seznámení s příslušnými přístroji.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Přítomnost je sledována vyučujícím. Toleruje se 25% absence ve výuce.

Základní literatura

A. Beninghoven: Secondary Ion Mass Spectrometry - basics concepts, instrumental aspects, applications and trends, John Wiley & Sons, NY, volume 86, 1987.
A. R. Hibbs: Confocal Microscopy for Biologists. Springer, 2004.
C. Kittel: Úvod do fyziky pevných látek 1997.
D. B. Murphy, M.W. Davidson: Fundamentals of light microscopy and electronic imaging. Wiley‐Blackwell 2012. (EN)
J. F. Ziegler, J. P. Biersack, M.D. Ziegler: SRIM The Stopping and Range of Ions in Matter, SRIM Co., 2008.
Kasap, Capper (Ed.) Springer Handbook of Electronic and Photonic Materials 2006.
R. G. Wilson, F. A. Stevie, and C. W. Magee: Secondary Ion Mass Spectrometry - a practical handbook for depth profiling and bulk analysis, John Wiley, 1989.
R. Waser (Ed.) Nanoelectronics and Information Technology 2005.
W. Eckstain: Computer Simulation of Ion-Solid Interaction, Springer-Verlag, 1991.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2A-P magisterský navazující

    obor M-FIN , 2 ročník, zimní semestr, povinný
    obor M-PMO , 2 ročník, zimní semestr, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D.
doc. Ing. Petr Bábor, Ph.D.
Ing. Zbyněk Dostál, Ph.D.
Ing. Jana Čolláková
prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D.
Ing. Martin Antoš, Ph.D.

Osnova

Úvod do světelné mikroskopie
Teoretický popis zobrazení
Konfokální mikroskopie
Fluorescenční mikroskopie
Ramanovská mikrospektroskopie a optické mikromanipulace
Interferenční a holografická mikroskopie
Počítače a kamery v mikroskopii
Optická a ramanovská spektroskopie
XPS
SIMS
LEIS