ZPŮSOB MĚŘENÍ MĚRNÉ VODIVOSTI A ZAŘÍZENÍ PRO JEHO PROVÁDĚNÍ

ZPŮSOB MĚŘENÍ MĚRNÉ VODIVOSTI A ZAŘÍZENÍ PRO JEHO PROVÁDĚNÍ

Patent

1. Způsob stanovení měrné elektrické vodivosti roztoků na základě naměřených hodnot napětí a proudu a známých geometrických rozměrů čidla, vyznačující se tím, že měřící čidlo se nejprve napájí proudovými bipolárními pulsy a snímá se napětí na konci každého druhého impulsu jednoho bipolárního pulsu, načež se z naměřených hodnot proudu a napětí stanoví odpor a z této hodnoty a geometrických rozměrů čidla, korigovaných kalibračním měřením, se stanoví hledaná hodnota měrné vodivosti. Výsledek není zatížen chybou známou u napěťového bipolárního pulsu a má vyšší odolnost vůči šumu. 2. Zařízení pro provádění způsobu stanovení měrné elektrické vodivosti roztoků podle naroku 1, opatřené čidlem, vzorkovacím zesilovačem a snímačem výstupního signálu, vyznačující se tím, že čidlo je spínáno tak, aby se dosáhlo maximální symetrie impulsů. Výsledná hodnota je převedena na digitální výstup. Zařízení je určeno pro implementaci na čip a potlačuje maximálně parazitní vlastnosti technologii CMOS.

1. Způsob stanovení měrné elektrické vodivosti roztoků na základě naměřených hodnot napětí a proudu a známých geometrických rozměrů čidla, vyznačující se tím, že měřící čidlo se nejprve napájí proudovými bipolárními pulsy a snímá se napětí na konci každého druhého impulsu jednoho bipolárního pulsu, načež se z naměřených hodnot proudu a napětí stanoví odpor a z této hodnoty a geometrických rozměrů čidla, korigovaných kalibračním měřením, se stanoví hledaná hodnota měrné vodivosti. Výsledek není zatížen chybou známou u napěťového bipolárního pulsu a má vyšší odolnost vůči šumu. 2. Zařízení pro provádění způsobu stanovení měrné elektrické vodivosti roztoků podle naroku 1, opatřené čidlem, vzorkovacím zesilovačem a snímačem výstupního signálu, vyznačující se tím, že čidlo je spínáno tak, aby se dosáhlo maximální symetrie impulsů. Výsledná hodnota je převedena na digitální výstup. Zařízení je určeno pro implementaci na čip a potlačuje maximálně parazitní vlastnosti technologii CMOS.

conductivity mesurement current bipolar pulse technique IDEs - interdigitated electrodes precise measurement

conductivity mesurement current bipolar pulse technique IDEs - interdigitated electrodes precise measurement

PV 2001-3227

07.09.2001

30.09.2001

Krejčí Engineering, Tišnov

Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)