Detail aplikovaného výsledku

Testovací zařízení pro výzkum výkonově kontaktovaných čipů

NOVOTNÝ, M.; JANKOVSKÝ, J.; SZENDIUCH, I.

Originální název

Testovací zařízení pro výzkum výkonově kontaktovaných čipů

Anglický název

Testing equipment for power chip interconnection

Druh

Funkční vzorek

Abstrakt

Jedná se o zařízení pro testování proudové zatížitelnosti kontaktovaných polovodičových čipů s maximálním proudem do 10 A.

Abstrakt aglicky

This works is used as power chip interconnection testing equipment for currents around 10 A.

Klíčová slova

silicon chip, wirebonding, power interconnection

Klíčová slova anglicky

silicon chip, wirebonding, power interconnection

Umístění

UMEL

Licenční poplatek

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence