Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
LENCOVÁ, B.; ZLÁMAL, J.
Originální název
A new program for the design of electron microscopes
Anglický název
Druh
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
Originální abstrakt
The paper describes the basic features of a new program EOD (Electron Optical Design), primarily intended for the design of systems of electron lenses and deflectors for scanning and transmission electron microscopes. A very accurate first-order finiteelement method in graded topologically regular meshes provides the fields. Electron optical properties can be analyzed from standard paraxial trajectories and aberration integrals for combined lens and deflection systems or, for a general system, from the results of very accurate ray-tracing. The advantage of EOD is that it includes a user-friendly interface, simplifying the output of results and the whole design procedure. EOD is used by undergraduate and postgraduate students at ISI and TU Brno.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
Finite element method; Electron lenses and deflectors; Computer-aided design; User interface
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2010
Vydáno
29.08.2008
Nakladatel
Elsevier
ISSN
1875-3892
Periodikum
Physics Procedia
Svazek
1
Číslo
Stát
Nizozemsko
Strany od
315
Strany do
324
Strany počet
10
BibTex
@article{BUT48562, author="Bohumila {Lencová} and Jakub {Zlámal}", title="A new program for the design of electron microscopes", journal="Physics Procedia", year="2008", volume="1", number="1", pages="315--324", issn="1875-3892" }