Detail publikačního výsledku

Failure modes of tantalum capacitors made by different technologies

VAŠINA, P.; ZEDNÍČEK, T.; ŠIKULA, J.; PAVELKA, J.

Originální název

Failure modes of tantalum capacitors made by different technologies

Anglický název

Failure modes of tantalum capacitors made by different technologies

Druh

Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus

Originální abstrakt

Failure modes of tantalum capacitors made by different technologies are investigated.

Anglický abstrakt

Failure modes of tantalum capacitors made by different technologies are investigated.

Klíčová slova

noise, reliability

Klíčová slova v angličtině

noise, reliability

Autoři

VAŠINA, P.; ZEDNÍČEK, T.; ŠIKULA, J.; PAVELKA, J.

Vydáno

01.01.2002

ISSN

0026-2714

Periodikum

MICROELECTRONICS RELIABILITY

Svazek

42

Číslo

6

Stát

Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Strany od

849

Strany počet

6

BibTex

@article{BUT43781,
  author="Petr {Vašina} and Tomáš {Zedníček} and Josef {Šikula} and Jan {Pavelka}",
  title="Failure modes of tantalum capacitors made by different technologies",
  journal="MICROELECTRONICS RELIABILITY",
  year="2002",
  volume="42",
  number="6",
  pages="6",
  issn="0026-2714"
}