Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
ŠKARVADA, P.; GRMELA, L.; ABUETWIRAT, I.; TOMÁNEK, P.
Originální název
Nanooptics of locally induced photocurrent in monocrystalline Si solar cells
Anglický název
Druh
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
Originální abstrakt
This paper presents the results of our experimental study of high resolution map of induced photocurrent in monocrystalline silicon solar cells. Photovoltaic solar cells are evaluated by Near-field Optical Beam Induced photocurrent (NOBIC), as well as by Scanning Near-field Optical Microscope (SNOM) topography and reflection. The correlation between reflection and transport characteristic indicates possibility of this diagnostic tool. Therefore the SNOM and NOBIC represent the coupling of very useful methods to provide a non-destructive local characterization on silicon semiconductor solar cells.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
monocrystalline Si, solar cell, locally induced photocurrent
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2010
Vydáno
17.11.2008
Nakladatel
SPIE
Místo
Bellingham, USA
ISBN
978-0-8194-7379-0
Kniha
Photonics, Devices and Systems - Proceedings of SPIE vol.7138
ISSN
0277-786X
Periodikum
Proceedings of SPIE
Svazek
7138
Číslo
Stát
Spojené státy americké
Strany od
2901
Strany do
2906
Strany počet
6
Plný text v Digitální knihovně
http://hdl.handle.net/
BibTex
@inproceedings{BUT29806, author="Pavel {Škarvada} and Lubomír {Grmela} and Inas Faisel {Abuetwirat} and Pavel {Tománek}", title="Nanooptics of locally induced photocurrent in monocrystalline Si solar cells", booktitle="Photonics, Devices and Systems - Proceedings of SPIE vol.7138", year="2008", journal="Proceedings of SPIE", volume="7138", number="7138", pages="2901--2906", publisher="SPIE", address="Bellingham, USA", isbn="978-0-8194-7379-0", issn="0277-786X" }