Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
ŠKARVADA, P.
Originální název
Solar cell surface local reflaction and pn junction area measurement
Anglický název
Druh
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
Originální abstrakt
The objective of this paper is focused on study of solar cell parameters by advanced microscopy methods. Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) is very useful modern tool for sample topography and surface reflectivity measurements. Using this, it is possible to determine pn junction area, localize some structure errors and investigate sample surface with submicron even subwavelength details. Accurate value of pn junction area is important parameter of solar cells, which is used for barrier capacitance calculations and improvement of solar cell effective value.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
Scanning near-field optical microscopy, solar cell, pn junction area, local reflection
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2010
Vydáno
24.04.2008
Nakladatel
Ing. Zdeněk Novotný CSc.
Místo
Brno
ISBN
978-80-214-3617-6
Kniha
Proceedings of the 14th conference Student EEICT 2008 volume 4
Strany od
317
Strany do
321
Strany počet
4
BibTex
@inproceedings{BUT26339, author="Pavel {Škarvada}", title="Solar cell surface local reflaction and pn junction area measurement", booktitle="Proceedings of the 14th conference Student EEICT 2008 volume 4", year="2008", number="1", pages="317--321", publisher="Ing. Zdeněk Novotný CSc.", address="Brno", isbn="978-80-214-3617-6" }