Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
RŮŽIČKA, R.
Originální název
Data Dependent I Path and their Utilisation in DFT
Anglický název
Druh
Stať ve sborníku mimo WoS a Scopus
Originální abstrakt
This paper describes an algorithm for utilisation of data paths in the digital circuit, in what functional units occur. These paths, called i paths, are used to transport test patterns and responses to them during the test of the circuit. Some functional units have an identity mode conditioned by the presence of concrete data (e.g. zero for an adder) on their inputs. When these dependencies are taken into account, the cost of modifications for testability of the circuit can be significantly reduced.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
i path, design-for-testability, i mode, data dependent i mode
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Vydáno
01.01.2000
Nakladatel
Akademické nakladatelství CERM
Místo
Brno
ISBN
80-7204-155-X
Kniha
Sborník prací studentů a doktorandů FEI VUT
Strany od
228
Strany do
230
Strany počet
3
BibTex
@inproceedings{BUT191625, author="Richard {Růžička}", title="Data Dependent I Path and their Utilisation in DFT", booktitle="Sborník prací studentů a doktorandů FEI VUT", year="2000", pages="228--230", publisher="Akademické nakladatelství CERM", address="Brno", isbn="80-7204-155-X" }