Detail aplikovaného výsledku

Calibration sample for magnetic contrast in SEM

KOLÍBAL, M.; URBÁNEK, M.; DHANKHAR, M.; VYSTAVĚL, T.

Originální název

Calibration sample for magnetic contrast in SEM

Anglický název

Calibration sample for magnetic contrast in SEM

Druh

Funkční vzorek

Abstrakt

Three samples for magnetic domain imaging, with the 15x(Pt/Co) multilayer patterned areas exhibiting out-of-plane magnetization.

Abstrakt aglicky

Three samples for magnetic domain imaging, with the 15x(Pt/Co) multilayer patterned areas exhibiting out-of-plane magnetization.

Klíčová slova

magnetic contrast, platinum/cobalt multilayer, Kerr microscopy, focused ion beam

Klíčová slova anglicky

magnetic contrast, platinum/cobalt multilayer, Kerr microscopy, focused ion beam

Umístění

Laboratoře CEITEC Nano, Purkyňova 123, Brno 61200

Licenční poplatek

Výsledek je využíván vlastníkem

www

http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/calibration-sample-for-magnetic-contrast-imaging-in-sem/