Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
LENZ, S.; KERN, B.; SCHNEIDER, M.; VAN SLAGEREN, J.
Originální název
Measurement of quantum coherence in thin films of molecular quantum bits without post-processing
Anglický název
Druh
Článek WoS
Originální abstrakt
Thin film deposition of molecular quantum bits may further their integration into devices. Current electron paramagnetic resonance equipment is ill-suited for thin film investigations of spin dynamics. We present a 35 GHz Fabry-Perot resonator enabling such measurements and demonstrate its use in the study of different molecular quantum bits.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
SPECTROMETER; SPINS; EPR
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2022
Vydáno
02.07.2019
Nakladatel
ROYAL SOC CHEMISTRY
Místo
CAMBRIDGE
ISSN
1359-7345
Periodikum
Chemical Communications
Svazek
55
Číslo
50
Stát
Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Strany od
7163
Strany do
7166
Strany počet
4
URL
https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2019/CC/C9CC02184A
BibTex
@article{BUT177359, author="Samuel {Lenz} and Bastian {Kern} and Martin {Schneider} and Joris {van Slageren}", title="Measurement of quantum coherence in thin films of molecular quantum bits without post-processing", journal="Chemical Communications", year="2019", volume="55", number="50", pages="7163--7166", doi="10.1039/c9cc02184a", issn="1359-7345", url="https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2019/CC/C9CC02184A" }