Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
NOVÁK, L.; ŠTEFFAN, P.
Originální název
Fast process detection of the chemical elements
Anglický název
Druh
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
Originální abstrakt
This paper describes a Fast mapping of the material composition via Sci-Trace devices. The measurement method is used LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy) for detection of the chemical elements. The method of fast mapping is implemented in the program LabView. In the paper is only mentioned the diagram of the process measurement implemented in LabView. The same program controls the whole electronic part of the devices. This paper compares two methods for data collection. Both methods are compared and described their advantages and disadvantages.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
LIBS, Fast process mapping, Layout detection, Chemical elements, LabView
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2021
Vydáno
21.10.2019
Nakladatel
Electroscope
Místo
Univezitní 8 Plzeň
ISSN
1802-4564
Periodikum
ElectroScope - http://www.electroscope.zcu.cz
Svazek
2019
Číslo
2
Stát
Česká republika
Strany od
1
Strany do
3
Strany počet
URL
http://electroscope.zcu.cz/
BibTex
@article{BUT159529, author="Lukáš {Novák} and Pavel {Šteffan}", title="Fast process detection of the chemical elements", journal="ElectroScope - http://www.electroscope.zcu.cz", year="2019", volume="2019", number="2", pages="1--3", issn="1802-4564", url="http://electroscope.zcu.cz/" }
Dokumenty
IMAPS 2019 - Novak Full Paper