Detail publikačního výsledku

neuvedeno

VANĚK, J., KAZELLE, J., BRZOKOUPIL, V., CHOBOLA, Z.

Originální název

neuvedeno

Druh

Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus

Originální abstrakt

Low-frequency Noise Measurements used for semiconductors light active devices

Anglický abstrakt

Low-frequency Noise Measurements used for semiconductors light active devices

Klíčová slova

Low-frequency Noise Measurements used for semiconductors light active devices

Klíčová slova v angličtině

Low-frequency Noise Measurements used for semiconductors light active devices

Autoři

VANĚK, J., KAZELLE, J., BRZOKOUPIL, V., CHOBOLA, Z.

Vydáno

13.09.2005

Nakladatel

Vysoké učení technické

Místo

Texas

ISBN

0-8194-5839-2

Kniha

Proceedings of the Conference Noise in Devices and Circuits III

Strany do

43

BibTex

@inproceedings{BUT15798,
  author="Jiří {Vaněk} and Zdeněk {Chobola} and Vladimír {Brzokoupil} and Jiří {Kazelle}",
  title="neuvedeno",
  booktitle="Proceedings of the Conference Noise in Devices and Circuits III",
  year="2005",
  publisher="Vysoké učení technické",
  address="Texas",
  isbn="0-8194-5839-2"
}