Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
VYROUBAL, P.; KAZDA, T.; BAYER, R.
Originální název
Numerical Simulation of the Nail Test
Anglický název
Druh
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
Originální abstrakt
Internal short-circuit is the most dangerous abusive condition for Li-ion batteries and has been the root cause for several catastrophic accidents involving Li-ion batteries in recent years. Large-format Li-ion batteries are particularly vulnerable to internal short-circuits because of high energy content. Nail penetration test is commonly used to study the internal shortcircuits, but the test results usually have poor reproducibility and offer limited insight. This paper deals with a possibility of numerical simulation of internal short circuit test using FEM.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
Lithium Ion Battery, FEM, nail test, short circuit
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2017
Vydáno
29.08.2016
Nakladatel
Brno University of Technology
Místo
Brno
ISBN
978-80-214-5384-5
Kniha
Advanced Batteries Accumulators and Fuel Cells – 17th ABAF
Strany od
169
Strany do
170
Strany počet
2
BibTex
@inproceedings{BUT128352, author="Petr {Vyroubal} and Tomáš {Kazda} and Robert {Bayer}", title="Numerical Simulation of the Nail Test", booktitle="Advanced Batteries Accumulators and Fuel Cells – 17th ABAF", year="2016", pages="169--170", publisher="Brno University of Technology", address="Brno", isbn="978-80-214-5384-5" }