Testovací deska pro měření vlastností bolometru

Testing board for measuring the properties of the bolometer

Funkční vzorek

Byl navržen integrovaný obvod pro inovativní způsob měření odporové matice bolometru. Cílem je vyhodnotit změnu odporu bolometru vlivem ohřátí dopadajícím infračerveným zářením. Je třeba vyhodnotit změnu teploty odporu bolometru v rozsahu 1 mK – 256 mK, což při jmenovitém odporu bolometru RB = 4 kΩ a teplotním koeficientu TCR = 0.5 % znamená měření změny odporu v rozsahu 0,012 Ω - 3,072 Ω. Pro měření vlastností matice bolometru byla navržena testovací deska s navrženým integrovaným obvodem.

It was designed integrated circuit for an innovative method of measuring the resistive bolometer matrix. The objective is to evaluate the resistance change due to heating bolometer incident infrared radiation. It is necessary to evaluate the temperature change of resistance bolometer in the range 1 m - 256 mK, which, in nominal resistance bolometer RB k = 4 and the temperature coefficient TCR = 0.5% means of measuring the change of resistance in the range of 0.012 Ω - 3072 Ω. For measuring properties of the bolometer matrix has been proposed a test plate with the proposed integrated circuit.

integrated circuit, bolometer

integrated circuit, bolometer

T10/6.27

Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)

http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/