Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
HROUZEK, M.
Originální název
Simulation of the cantilever used as a weak force sensor in Atomic Force Microscopy
Anglický název
Druh
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
Originální abstrakt
New types of weak forces measurements with Atomic Force Microscope (AFM) are very challenging for experimental physics and call for new studies about controllers operating the AFM. For the development of improved regulators applied into control systems is needed precise model of the cantilever with a sharp tip, as a detection system, and its interaction with the scanned sample. This paper presents a model of the cantilever, that is based at the beam theory with the in°uence of the long distance interaction forces.
Anglický abstrakt
Klíčová slova v angličtině
cantilever, weak force, sensor
Autoři
Vydáno
01.01.2004
Nakladatel
VUT v Brně, Antonínská 548/1
Místo
Brno
ISBN
80-214-2701-9
Kniha
ELECTRONIC DEVICES AND SYSTEMS 04 - PROCEEDINGS
Edice
1
Strany od
Strany počet
5
BibTex
@inproceedings{BUT11551, author="Michal {Hrouzek}", title="Simulation of the cantilever used as a weak force sensor in Atomic Force Microscopy", booktitle="ELECTRONIC DEVICES AND SYSTEMS 04 - PROCEEDINGS", year="2004", series="1", number="1", pages="5", publisher="VUT v Brně, Antonínská 548/1", address="Brno", isbn="80-214-2701-9" }