Detail publikačního výsledku

Ion electromigration in CdTe Schottky Metal-Semiconductor-Metal Structure

ELHADIDY, H.; GRILL, R.; FRANC, J.; ŠIK, O.; MORAVEC, P.; SCHNEEWEISS, O.

Originální název

Ion electromigration in CdTe Schottky Metal-Semiconductor-Metal Structure

Anglický název

Ion electromigration in CdTe Schottky Metal-Semiconductor-Metal Structure

Druh

Článek WoS

Originální abstrakt

Byly měřeny proudové přechody u struktury Schottkyho struktury kov-polovodič-kov. Vytvořili jsme nový model objas ňující proudový přechod jakožrto důsledek migracie iontových defektů. Byly stanoveny hustoty donorů, akceptorů a difuzní koeficienty iontových příměsí. Model je ověřen měřenním změny odporu materiálu v čase. Byla zaznamenána velmi nízká tendence návratu rezistivity v čase.

Anglický abstrakt

We measured current transients (TC) in Schottky M–S–M (Au–CdTe–Au) structure. We developed a new model to explain TC by electromigration of charged ion defects. The acceptor, donor densities and the diffusion coefficients of ions were extracted. The model is confirmed by measuring the depletion region resistance with time. There was very weak tendency of the sample resistivity to revert to initial conditions.

Klíčová slova

Cdte, schottky contacts, electromigration

Klíčová slova v angličtině

Cdte, Schottkyho kontakty, elektromigrace

Autoři

ELHADIDY, H.; GRILL, R.; FRANC, J.; ŠIK, O.; MORAVEC, P.; SCHNEEWEISS, O.

Rok RIV

2016

Vydáno

01.06.2015

Nakladatel

Elsevier

Místo

Holland

ISSN

0167-2738

Periodikum

SOLID STATE IONICS

Svazek

277

Číslo

27

Stát

Nizozemsko

Strany od

20

Strany do

25

Strany počet

6

URL

http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0167273815001836

BibTex

@article{BUT114374,
  author="Hassan {Elhadidy} and Roman {Grill} and Jan {Franc} and Ondřej {Šik} and Pavel {Moravec} and Oldřich {Schneeweiss}",
  title="Ion electromigration in CdTe Schottky Metal-Semiconductor-Metal Structure",
  journal="SOLID STATE IONICS",
  year="2015",
  volume="277",
  number="27",
  pages="20--25",
  doi="10.1016/j.ssi.2015.04.016",
  issn="0167-2738",
  url="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0167273815001836"
}