Rastrovací Kerrův mikroskop

Scanning Kerr microscope

Funkční vzorek

Zařízení umožňuje měření magnetooptického Kerrova jevu v magnetických nanostrukturách pomocí fokusovaného laserového svazku v longitudinální, transverzální i polární konfiguraci. Požadovaná geometrie experimentu je vybrána pomocí polohování vstupní pupily objektivu. Kerrova rotace je měřena pomocí analyzátoru využívajícího Wollastonův hranol a dvě fotodiody. Při použití objektivu 150x s NA 0.9 je dozaženo velikosti stopy cca 560 nm. Vzorek je připevněn na 3D piezo manipulátor, umožňující ostření laserového svazku posuvem v ose z a rastrování v osách x-y. Při rastrování jsou zaznamenávány mapy reflektivity a Kerrovy rotace. Takto je možné získat současně optický a magnetooptický obraz vzorku. Vzorek je dále umístěn ve vnějším magnetickém poli 100 mT a sestava umožňuje měření hysterezních smyček v libovolném bodě povrchu vzorku.

The microscope measures magnetooptical Kerr effect in magnetic nanostructures by scanning a focused laser beam over the sample surface. By selecting the position of the laser beam in the entrance aperture of the microscope objective it is possible to select a required experiment geometry – to measure either longitudinal, transversal or polar Kerr effect. By using 3D scanning piezostage it is possible to precisely focus on the sample surface (z-axis of the piezostage) and to acquire 2D maps of reflectivities and Kerr rotations (x-y axes of the piezostage). The microscope also allows for precise measurement in each pixel of the sample.

scanning Kerr microscope; Kerr effect; magneto-optical microscopy; magnetometry

scanning Kerr microscope; Kerr effect; magneto-optical microscopy; magnetometry

Laboratoře ÚFI FSI VUT v Brně

výsledek využívá pouze poskytovatel

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2014-08/