Detail předmětu

Methods of Structure Analysis

CEITEC VUT-DS145AAk. rok: 2025/2026

Výuka pokrývá do různé hloubky tato témata:
světelná mikroskopie, obrazová analýza, laserová rastrovací konfokální mikroskopie (CLSM), společné prvky a funkční bloky elektronových mikroskopů, interakce elektron-hmota, rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), speciální techniky v SEM, přehled metod lokální analýzy chem. složení, energiově disperzní spektroskopie (EDS), vlnově disperzní spektroskopie (WDS), RTG fluorescenční spektroskopie (XRF) a mikro XRF, katodoluminiscenční spektroskopie (CL), difrakce zpětně rozptýlených elektronů (EBSD), mikroskopie fokusovaným svazkem iontů (FIB), transmisní elektronová mikroskopie rastrovací transmisní elektronová mikroskopie (TEM, STEM), metody přípravy vzorků pro SEM a TEM, difrakční a rozptylové techniky využívající RTG záření (XRD) 

Jazyk výuky

čeština

Garant předmětu

Ing. Ondřej Man, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Středoevropský technologický institut VUT (CEITEC VUT)

Vstupní znalosti

Nezbytné jsou základní znalosti obecné fyziky (mechaniky, elektřiny, magnetismu a základy kvantové teorie) a matematiky (diferenciání a integrální počet, matice, statistika) na úrovni poskytované v průběhu bakalářského studia. Dále jsou nutné znalosti z fyziky pevné fáze a krystalografie (krystalové soustavy/mřížky, reciproký prostor, kinematická a dynamická teorie difrakce, pólový diagram, základní stereografický trojúhelník). 

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

Předmět je ukončen zkouškou. Zkouška je písemná a případně ještě ústní. Pro udělení zápočtu je podmínkou vypracování zadaných projektů k tématům cvičení.
Povinná je účast ve cvičeních, případná absence je řešena individuálně, obvykle náhradním zadáním. 

Učební cíle

Cílem kurzu je poskytnout studentům přehled a teoretické znalosti o principech všech základních metod pro analýzu struktury a fázového složení materiálů, včetně nezbytných postupů přípravy vzorků. Při praktických demonstracích metod získají studenti základní přehled o metodických postupech při řešení problémů a analýze výsledků.

Po absolvování kurzu má být student schopen zvolit odpovídající analytickou techniku pro řešení praktických problémů v materiálovém inženýrství.

 

Základní literatura

ECKERTOVÁ, Ludmila a Luděk FRANK. Metody analýzy povrchů: elektronová mikroskopie a difrakce. Praha: Academia, 1996, 379 s. ISBN 80-200-0329-0. (CS) (CS)
FLEWITT, P. E. J a Robert K WILD. Physical methods for materials characterisation. Bristol: Institute of Physics Publishing, 1994, xvi, 517 p. : il. ISBN 0-7503-0320-4.ProQuest Ebook Central (EN) (CS)
FRANK, Luděk a Jaroslav KRÁL. Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody. Praha: Academia, 2002, 489 s. ISBN 80-200-0594-3. (CS) (CS)
GOLDSTEIN, I. Joseph. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer, 2003, xix, 689 s. : il. + 1 CD-ROM. ISBN 0-306-47292-9. (EN) (CS)
KARLÍK, Miroslav. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2011, 321 s. : il. (některé barev.) ; 30 cm. ISBN 978-80-01-04729-3. (CS) (CS)