Detail předmětu
Konstrukce elektronických zařízení
FEKT-BKEZAk. rok: 2017/2018
Konstrukce a vlastnosti signálových spojů, napájecí zdroje a rozvody - odrušení a zemní smyčky. Parazitní jevy a jejich potlačení - vazby u vstupních a výstupních obvodů, parazitní kapacity a indukčnosti, termoelektrické napětí, přepětí na indukční zátěži, odrazy na vedení, přeslechy. Stínění proti elektrickému a magnetickému poli, ekvipotenciální stínění. Výběr součástek a aplikační doporučení - diskrétní prvky, operační zesilovače, komparátory, elektronické spínače, A/D a D/A převodníky, vzorkovače s pamětí, číslicové obvody, mikroprocesory. Mechanická konstrukce: řídicí, ovládací a indikační prvky - rozmístění na předním panelu, konstrukce přístrojových skříní, odvod tepla, termostaty. Plošné spoje, plošné drátové spoje, připojování vodičů a součástek. Bezpečnostní požadavky na konstrukci přístrojů. Metodika oživování elektronických přístrojů.
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Prerekvizity
Literatura
ARCHAMBEAUTT, B.R.: PCB Design for Real-World EMI Control. Kluwer Academic Publishers, 2002
HALL, S.H.; HECK, H.L.: High-Speed Digital Designs. Wiley, 2009
LINEAR TECHNOLOGY: Linear Applications Handbook. Linear Technology, Milpitas 1999
NATIONAL SEMICONDUCTOR: National Analog and Interface Products Databook. National Semiconductor, Santa Clara 1999
FAIRCHILD: Analog - mixed signal, interface, logic, non-voltatile memory, power products. Fairchild Semiconductors, www.fairchildsemi.com
Buchanan J.E.: BiCMOS/CMOS system design. McGraw-Hill, New York 1998
Ginsberg G. L.: Printed circuits design. McGraw-Hill, New York 1999
VRBA, K.: Konstrukce elektronických zařízení, elektronická skripta, VUT v Brně, 2013
Vrba, K., Hanák, P. Vybrané problémy konstrukce elektronických přístrojů pro integrovanou výuku VUT a VŠB-TUO
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Způsob a kritéria hodnocení
Jazyk výuky
Osnovy výuky
2. Konstrukce napájecích zdrojů a rozvod napájení
3. Rozvody společného vodiče - země
4. Parazitní jevy a jejich potlačení
5. Stínění elektrického pole, magnetického pole, ekvipotenciální stínění
6. Výběr součástek a aplikační zásady
6.1 Pasivní prvky
6.2 Operační zesilovače
6.3 Komparátory
6.4 Převodníky A/D a D/A
6.5 Číslicové obvody TTL
6.6 Číslicové obvody CMOS
7. Mechanická konstrukce
7.1 Ovládací a indikační prvky a jejich rozmístění
7.2 Typy přístrojových skříní
7.3 Odolnost zařízení vůči různým prostředím
7.4 Odvod tepla ze součástek a z přístrojových skříní
7.5 Teplotní stabilizace (termostaty)
8. Bezpečnostní požadavky na konstrukci
9. Oživování přístrojů
9.1 Hledání závad v analogových obvodech
9.2 Hledání závad v číslicových obvodech
Cíl
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Zařazení předmětu ve studijních plánech
- Program EEKR-B bakalářský
obor B-EST , 2. ročník, letní semestr, 6 kreditů, volitelný mimooborový
- Program AUDIO-J bakalářský
obor J-AUD , 3. ročník, letní semestr, 6 kreditů, volitelný mimooborový
- Program EEKR-B bakalářský
obor B-AMT , 3. ročník, letní semestr, 6 kreditů, volitelný mimooborový
obor B-TLI , 3. ročník, letní semestr, 6 kreditů, volitelný oborový - Program EEKR-CZV celoživotní vzdělávání (není studentem)
obor ET-CZV , 1. ročník, letní semestr, 6 kreditů, volitelný oborový