Detail předmětu

Metody studia materiálů A

FSI-WZ2Ak. rok: 1999/2000

Světelná mikroskopie (metody, principy, aplikace), obrazová analýza, technologie.Interakce elektronů s hmotou. Transmisní elektronová mikroskopie a difrakce. Vysokonapěťový TEM. Mikroskopie s vysokým rozlišením. Rastrovací elektronová mikroskopie. Environmentální REM. Lokální analýza v TEM a REM (s využitím buzeného rtg. záření, augerových elektronů, spektroskopie elektronových ztrát. Rtg. difraktometrie.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

5

Garant předmětu

prof. Ing. Jiří Švejcar, CSc.

Zajišťuje ústav

Ústav materiálových věd a inženýrství (ÚMVI)

Výsledky učení předmětu

Znalost principů a aplikační možnosti základních metod strukturní
a fázové analýzy, včetně postupů odběru a přípravy vzorků.

Učební cíle

Cílem kurzu je poskytnout studentům přehled a v menší míře
i teoretické znalosti a princip všech základních metod pro
strukturní a fázovou analýzu (fyzikální principy metod, parametry
přístrojů,aplikační šíře metod atd), včetně přípravy vzorků. Na
praktických aplikacích metod získají studenti základní přehled o
metodických postupech při řešení problémů a analýze výsledků.

Základní literatura

D.Brandon,W.D.Kaplan: Microstructural Character.of Materials, , 0
Goldstein et all: Scanning Electron Microscopy and Microanalysis, , 0

Doporučená literatura

P.E.J.Flewitt,R.K.Wild: Physical Methods for Materials Characterisation, , 0

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2301-5 magisterský

    obor , 1. ročník, letní semestr, povinný
    obor , 1. ročník, letní semestr, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

42 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

prof. Ing. Jiří Švejcar, CSc.

Speciální laboratoř

14 hod., povinná

Vyučující / Lektor

prof. Ing. Jiří Švejcar, CSc.