Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
RECMAN, M.
Originální název
CMOS Circuits Fault Simulation
Anglický název
Druh
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
Originální abstrakt
The testibility of failures modeled by bridges and opens in CMOS operational amplifier is investigated. The functional (voltage of the output node) and current (supply current) effects caused by these types of failures in the circuit under test are presented. The correlated statistical models of individual MOS devices are used for fault simulatin. The proper number of Monte Carlo runs simulates technological spreads in output voltage and supply current. The scatter plots of these electrical variables then give the first information on fault detectibility using functional, supply current or combined technique.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
fault simulation, testing, diagnosis, CMOS analog circuits, fault modeling, circuit simulation
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Vydáno
01.01.2003
Nakladatel
Novotný-Brno
Místo
Brno
ISBN
80-214-2461-3
Kniha
Proceedings of the Socrates Workshop 2003
Strany od
129
Strany počet
7
BibTex
@inproceedings{BUT9407, author="Milan {Recman}", title="CMOS Circuits Fault Simulation", booktitle="Proceedings of the Socrates Workshop 2003", year="2003", pages="7", publisher="Novotný-Brno", address="Brno", isbn="80-214-2461-3" }