Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
SEDLÁK, P.; MAJZNER, J.; ŠIKULA, J.; HÁJEK, K.
Originální název
Noise measurement setup for quartz crystal microbalance
Anglický název
Druh
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
Originální abstrakt
The paper describes our measurement setup, in which a quartz crystal oscillator with coated active layers and a reference quartz oscillator are driven by two oscillator circuits. Each one regulates a frequency of a crystal at the minimum impedance which corresponds to the series resonance. A data-acquisition card triggers on the rise-edges of the output signal and stores these corresponding times on which the instantaneous frequency is estimated by own-written software.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
Quartz crystal microbalance, noise measurement setup, fluctuation
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2013
Vydáno
12.04.2012
Nakladatel
SPOLECNOST PRO RADIOELEKTRONICKE INZENYRSTVI
Místo
Prague
ISSN
1210-2512
Periodikum
Radioengineering
Svazek
21
Číslo
1
Stát
Česká republika
Strany od
207
Strany do
212
Strany počet
6
BibTex
@article{BUT92964, author="Petr {Sedlák} and Jiří {Majzner} and Josef {Šikula} and Karel {Hájek}", title="Noise measurement setup for quartz crystal microbalance", journal="Radioengineering", year="2012", volume="21", number="1", pages="207--212", issn="1210-2512" }