Zařízení pro měření I-V křivek emise studených katod

Equipment for measuring I-V curves emission cold cathodes

Funkční vzorek

Navržené zařízení je určeno pro měření I-V křivek emise studených katod. Měření je možno provádět v rozsahu intenzity elektrického pole 0-35 V.um-1 a různých teplot substrátu a to vše za podmínek UHV. Zařízení je určeno pro měření emisivity polovodičových nanovláken užívaných převážně v elektronové mikroskopii

The equpments is desined to measurenemt I-V curves emission cold cathodes. Measurements can be carried out in the range of electrical intensity fields 0-35 V.um-1 at different substrates temperatures in UHV condtions The device is intended for measurement of emissivity semiconductor nanowires mainly used by in electron microscopy

emisivit;, studená katoda

emissivity, cold cathode

A2/518

výsledek využívá pouze poskytovatel

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence