Optický systém pro měření a vizualizaci

Optical system for measurement and visualization

Funkční vzorek

Optický systém pro měření tloušťky s rozlišením 1 um. Tento optický systém je využitelný zejména pro měření tloušťkových rozměrů využitím charakteristické vlastnosti mikroskopu, tzv. velmi malé hloubky ostrosti. Metodika měření je optická, to znamená, že je systém bezkontaktní a lze měřit i pastovité materiály. Toto zařízení slouží také pro vizualizaci s velkým optickým zvětšením a přitom vysokou ostrostí, která je zajištěna násobným sklkádáním obrazů s malou hloubkou ostrosti.

Optical system for measuring the thickness with a resolution of 1 um. This optical system is usable particularly for measuring dimensions using tloušťkových characteristics of the microscope, the very shallow depth of field. The method of measurement is optical, it means that the system is contactless and can be measured and pasty materials. This device is also used for visualization with high optical magnification, while high definition, which is secured by multiple sklkádáním images with shallow depth of field.

thickness, visualization, depth of field, noncontact, profilometer

thickness, visualization, depth of field, noncontact, profilometer

Technická 3058/10, laboratoř 0.63

výsledek využívá pouze poskytovatel

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/#osmv