Přípravek pro měření vrstvového odporu

Device for testing of layer measurement

Funkční vzorek

Přípravek slouží pro demonstrativní měření elektrických vlastností TLV vzorků. Během měření jednotlivých vzorků dochází k automatické korekci napětí řízeným proudovým zdrojem. Na základě naměřených hodnot se určuje odpor na čtverec.

Device is used for illustrative TLV measurement of electrical properties of samples. During measurement of samples is voltage-controlled by an automatic correction from current source. Based on the measured values is determined layer resistance.

Tlustovrstvá technologie, odpor na čtverec, automatizované, měření

Thick film technology, layer resistance, automation, measurement

0.64

výsledek využívá pouze poskytovatel

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/#pmvo