Detail aplikovaného výsledku

Testovací čip pro měření nelineárních kondenzátorů modifikovanou metodou CBCM

Sutorý, T.

Originální název

Testovací čip pro měření nelineárních kondenzátorů modifikovanou metodou CBCM

Anglický název

Testchip for nonlinear capacitors measurement by modified CBCM

Druh

Prototyp

Abstrakt

Testovací čip slouží k ověření modifikované metody CBCM sloužící k měření a charakterizaci nelineárních kondenzátorů. Naměřená data z 64 testovacích struktůr slouží k výzkumu nelineárních kondenzátorů a jejich linearizace.

Abstrakt aglicky

Testchip is used to verification modified CBCM for measurement and characterization of nonlinear capacitors. 64 structures measured data are used to research of nonlinear capacitors and linearization.

Klíčová slova

CBCM, nonlinear capacitors, MOS capacitors, measurement

Klíčová slova anglicky

CBCM, nonlinear capacitors, MOS capacitors, measurement

Umístění

Ústav radioelektroniky Purkyňova 118 612 00 Brno

Licenční poplatek

Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)

www

Ústav radioelektroniky Purkyňova 118 612 00 Brno