Detail publikačního výsledku

Diagnostics of analogue integrated circuits

KOLAŘÍK, V., MUSIL, V.

Originální název

Diagnostics of analogue integrated circuits

Anglický název

Diagnostics of analogue integrated circuits

Druh

Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus

Originální abstrakt

Electronic Devices and Systems EDS 01. Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components - Workshop. Proceedings

Anglický abstrakt

Electronic Devices and Systems EDS 01. Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components - Workshop. Proceedings

Klíčová slova v angličtině

electronics, integrated circuits, diagnostics, noise

Autoři

KOLAŘÍK, V., MUSIL, V.

Vydáno

12.09.2001

Nakladatel

Ing. Zdeněk Novotný, CSc.

Místo

Brno

ISBN

80-214-1960-1

Kniha

Electronic Devices and Systems EDS 01. Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components - Workshop. Proceedings

Strany od

60

Strany počet

8

BibTex

@inproceedings{BUT4536,
  author="Vladimír {Kolařík} and Vladislav {Musil}",
  title="Diagnostics of analogue integrated circuits",
  booktitle="Electronic Devices and Systems EDS 01. Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components - Workshop. Proceedings",
  year="2001",
  pages="8",
  publisher="Ing. Zdeněk Novotný, CSc.",
  address="Brno",
  isbn="80-214-1960-1"
}