Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
KLAPETEK, P.; BURŠÍK, J.; MARTINEK, J.
Originální název
Near-field scanning optical microscope probe analysis
Anglický název
Druh
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
Originální abstrakt
In this article results of a comparison of two NSOM probe characterization methods are presented. Scanning electron microscopy analysis combined with electromagnetic field modeling using the finite difference in time domain method are compared with measured far-field radiation diagrams of NSOM probes. It is shown that measurement of far-field radiation diagrams can be an efficient tool for daily checking of the NSOM probes quality. Moreover, it is shown that the inner probe geometry has large influence on the directional radiation of an NSOM probe and the far-field radiation diagram can be used as a simple method to distinguish between different probe geometries.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
NSOM, artifacts
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Vydáno
12.11.2007
ISSN
0304-3991
Periodikum
ULTRAMICROSCOPY
Svazek
2007
Číslo
1
Stát
Nizozemsko
Strany od
Strany do
Strany počet
4
BibTex
@article{BUT44372, author="Petr {Klapetek} and Jiří {Buršík} and Jan {Martinek}", title="Near-field scanning optical microscope probe analysis", journal="ULTRAMICROSCOPY", year="2007", volume="2007", number="1", pages="1--1", issn="0304-3991" }