Detail publikačního výsledku

Noise and transport characterisation of tantalum capacitors

PAVELKA, J.; ŠIKULA, J.; VAŠINA, P.; SEDLÁKOVÁ, V.; TACANO, M.; HASHIGUCHI, S.

Originální název

Noise and transport characterisation of tantalum capacitors

Anglický název

Noise and transport characterisation of tantalum capacitors

Druh

Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus

Originální abstrakt

Noise and transport characterisation of tantalum capacitors

Anglický abstrakt

Noise and transport characterisation of tantalum capacitors

Klíčová slova

noise, reliability, tantalum capacitors

Klíčová slova v angličtině

noise, reliability, tantalum capacitors

Autoři

PAVELKA, J.; ŠIKULA, J.; VAŠINA, P.; SEDLÁKOVÁ, V.; TACANO, M.; HASHIGUCHI, S.

Vydáno

01.01.2002

ISSN

0026-2714

Periodikum

MICROELECTRONICS RELIABILITY

Svazek

42

Číslo

6

Stát

Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Strany od

841

Strany počet

7

BibTex

@article{BUT43782,
  author="Jan {Pavelka} and Josef {Šikula} and Petr {Vašina} and Vlasta {Sedláková} and Munecazu {Tacano} and Sumihisa {Hashiguchi}",
  title="Noise and transport characterisation of tantalum capacitors",
  journal="MICROELECTRONICS RELIABILITY",
  year="2002",
  volume="42",
  number="6",
  pages="7",
  issn="0026-2714"
}