Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
PAZDERA, L.
Originální název
Empirical model for the low-frequency noise of hot-carrier degraded submicron LDD MOSFET´s
Anglický název
Druh
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
Originální abstrakt
Anglický abstrakt
Klíčová slova v angličtině
model, low-frequency noise , LDD MOSFET´s
Autoři
Vydáno
01.01.1997
ISSN
0741-3106
Periodikum
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
Svazek
1997
Číslo
5
Stát
Spojené státy americké
Strany od
480
Strany počet
3
BibTex
@article{BUT41385, author="Luboš {Pazdera}", title="Empirical model for the low-frequency noise of hot-carrier degraded submicron LDD MOSFET´s", journal="IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS", year="1997", volume="1997", number="5", pages="3", issn="0741-3106" }