Detail publikačního výsledku

Noise and scanning by local illumination as Reliability estimation for silicon solar cells

CHOBOLA, Z., IBRAHIM, A.

Originální název

Noise and scanning by local illumination as Reliability estimation for silicon solar cells

Anglický název

Noise and scanning by local illumination as Reliability estimation for silicon solar cells

Druh

Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus

Originální abstrakt

Noise and scanning by local illumination as Reliability estimation for silicon solar cells

Anglický abstrakt

Noise and scanning by local illumination as Reliability estimation for silicon solar cells

Klíčová slova v angličtině

Noise and scanning

Autoři

CHOBOLA, Z., IBRAHIM, A.

Vydáno

01.01.2001

ISSN

0219-4775

Periodikum

FLUCTUATION AND NOISE LETTERS

Svazek

1

Číslo

1

Stát

Singapurská republika

Strany od

L21

Strany počet

6